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動態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運動。測量系統(tǒng)包括一個產(chǎn)生干涉的激光光源、接收干涉的背散射光的檢測器。通過對膜的干燥動力學(xué)曲線的分析，可以得到有關(guān)膜形成過程中分子運動及重排等信息。

光源: 650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)

檢測器: (MS-DWS多散斑擴散波光譜學(xué))

溫度：室溫（可選高溫版本，室溫-250℃）

測量厚度: 不高于500 μm 膜厚度

動態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運動，測量系統(tǒng)包括一個產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測器。干涉的圖像被稱作散斑圖像，由多像素檢測器檢測。

先進(jìn)的干涉光斑光譜成像技術(shù)可以記錄從粒子的從運動速度非?？欤衲ぃ┑竭\動速度非常緩慢（干膜）的速度變化動態(tài)。變化的動力學(xué)過程可以通過流動性因子對時間的變化關(guān)系曲線進(jìn)行量化。

- 可以測量不同基底：金屬、塑料、玻璃、木頭、混凝土、紙、薄膜…

- 可以測量膜的厚度 : 高達(dá)500 μm

- 數(shù)據(jù):

1. 成膜動力學(xué)報告：流動性因子對時間的變化關(guān)系曲線

2. 根據(jù)膜的類型（水劑涂料或其他），自動計算特征點

3. 特征點的數(shù)據(jù)表摘要

4. 數(shù)據(jù)可以輸出到excel表格中

主要規(guī)格

檢測頭：

光源: 650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)

檢測器: (MS-DWS多散斑擴散波光譜學(xué))

溫度：室溫（可選高溫版本，室溫-250℃）

測量平臺:

防震平臺

測量厚度: 厚達(dá)500 μm 膜厚度

數(shù)據(jù)采集:

可以從秒到數(shù)天. *快可達(dá)30次采集/秒