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產(chǎn)品概述

2014 年，美國(guó)分散技術(shù)公司（DTI ）推出了新一代 美國(guó)DT電聲電振法zeta電位分析儀DT-330，既可在原濃液環(huán)境下測(cè)量固體顆粒 zeta 電位，也可測(cè)量塊狀或粉狀固體孔隙率和孔表面電位，儀器執(zhí)行GB/T32671.1標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品特點(diǎn)

只要固體樣品能被某種液體浸潤(rùn)即可進(jìn)行分析，DT電聲電振法zeta電位分析儀DT-330能夠用于幾乎所有類(lèi)型的多相系統(tǒng)，測(cè)量顆粒和多孔材料的 zeta 電位：

1. 固體顆粒的分散體

2. 乳液

3. 粒度達(dá)毫米級(jí)的多孔顆粒分散體

4. 固體顆粒的沉積物

5. 多孔顆粒的沉積物

6. 塊體，如地質(zhì)巖心，瓷磚等多孔材料

7. 膜

美國(guó)DT電聲電振法zeta電位分析儀DT-330 的特點(diǎn)

1. 采用電聲學(xué) CVI 測(cè)量技術(shù)測(cè)量原濃膠體體系的 Zeta 電位

2. 通過(guò)高頻電導(dǎo)率探頭測(cè)量孔隙率（**方法）

3. 采用電聲電振法測(cè)量多孔材料塊體的孔表面電位

4. 通過(guò)電導(dǎo)率測(cè)定，可計(jì)算出雙電層厚度、表面電荷密度和杜坎數(shù)

5. 可適用于任何容器內(nèi)液體的測(cè)定，無(wú)需特殊樣品池

6. 對(duì)于高達(dá) 50％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量

7. 可以直接用 Zeta 電位探頭測(cè)量漿糊、凝膠、水泥等高粘度材料體系的 zeta 電位

美國(guó)DT電聲電振法zeta電位分析儀DT-330的技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品應(yīng)用

美國(guó)分散科技公司（DTI）成立于 1996 年，專(zhuān)注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù)。 DTI 開(kāi)發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、 zeta 電位、流變學(xué)、固體含量、孔隙率，包括 CMP 漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等，并可應(yīng)用于多孔固體。DTI 享有 7 項(xiàng)美國(guó)**，并在 ISO 參與領(lǐng)導(dǎo)組織超聲法粒度分布國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和電聲法測(cè)量 Zeta 電位國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的制定。