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精微高博比表面積儀

JW-BK400系列

四站比表面及孔徑分析儀

比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結(jié)構(gòu)的重要參數(shù)之一，常用、可靠的方法是靜態(tài)容量法氣體吸附。JW-BK400系列高通量全自動(dòng)比表面及孔徑分析儀即能準(zhǔn)確可靠解決粉體材料比表面積及孔徑分析問(wèn)題，該產(chǎn)品配置4個(gè)獨(dú)立并列分析站，測(cè)試效率超高，可有效解決納米粉體材料的比表面介孔大孔高通量分析問(wèn)題，滿足中大型企業(yè)多樣品、高效率測(cè)試需求。