粉體行業(yè)在線展覽
面議
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MaxMile的無汞探測(cè)器可廣泛用于各種有電子特性的半導(dǎo)體樣品。通過在材料中即時(shí)形成肖特基或mos器件來實(shí)現(xiàn)探測(cè)功能,不需要耗時(shí)的金屬化工藝。相比傳統(tǒng)的汞探測(cè)器,無汞探測(cè)器沒有汞累積中毒問題,并可實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜的測(cè)量。
無汞探測(cè)器具有快速、經(jīng)濟(jì)、無損于材料等特性。它們是研發(fā)和生產(chǎn)的理想工具,如過程監(jiān)控,質(zhì)量控制和快速反饋。
接觸方式:?jiǎn)谓佑|、雙接觸、混合接觸;
接觸面積:0.8-2 mm,可定制;
探頭控制:手動(dòng)、自動(dòng)和映射;
工作臺(tái)直徑:2"(50mm)-12"(300mm)。
接口:接口線長(zhǎng)度可任意定制。
單接觸無汞電探針通過與材料基體接觸進(jìn)行測(cè)量,而雙接觸探針測(cè)量則通過接觸帶有半絕緣體或絕緣體基底的半導(dǎo)體一側(cè)的兩個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量?;旌辖佑|測(cè)量包括單接觸測(cè)量和雙接觸測(cè)量。
BSD-PS
JB-5
miniX
JW-DX
F-Sorb 2400
ASAP 2420系列
Acorn
FT-301系列
GCTKP-700
JT-2000P3
Autosorb-iQ
BELSORP MINI X