粉體行業(yè)在線展覽
In-situ series
面議
HORIBA
In-situ series
2918
儀器介紹:
在鍍膜或刻蝕的過程中,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品膜的膜厚以及光學(xué)常數(shù)(n,k)變化。
技術(shù)參數(shù):
·可實(shí)現(xiàn)快速、實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè)樣品膜層變化
主要特點(diǎn):
將激發(fā)和探測(cè)頭引入生產(chǎn)設(shè)備,可實(shí)現(xiàn):
· 動(dòng)態(tài)模式:實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)膜厚變化
· 光譜模式:監(jiān)測(cè)薄膜的界面和組分
EMIA-Expert
EMIA-Pro
EMIA-820V
LA-300 、LA-920
LA-960
SZ-100系列
LA-350
FluoroMax -
Fluorolog-3
Aqualog?
XploRA Nano
XploRA INV
LHTG/LHTM/LHTW
Empyrean
V-Sorb4800-金埃譜
EMIA-820V
Hydrolink
Autoflex R837
3H-2000A
SQL810C/1010C
UNI800B
電磁波波譜濃度儀
BI-ZTU