粉體行業(yè)在線展覽
面議
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組合式熒光光譜測量系統(tǒng)-OmniPL系列
光 致發(fā)光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光。PL 熒光測量系統(tǒng)通常是用較強的單色光(如激光器等)激發(fā)樣品/ 材料(如GaN/ZnO 等)產(chǎn)生熒光,通過對其熒光光譜的測量,分析該材料的光學(xué)特性。典型應(yīng)用于LED 發(fā)光材料、半導(dǎo)體材料的研究。 OmniPL 系列穩(wěn)態(tài)熒光光譜測量系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計,在滿足PL 光譜測量的同時,用戶可以根據(jù)不同的實驗需求,選擇不同的配件,靈活的進(jìn)行系統(tǒng)功能的擴(kuò)展。 |
系統(tǒng)組成:激發(fā)光源+ 樣品室+熒光光譜儀+數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)+軟件+計算機
OmniPL-LF325型穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光光譜系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)
● 激發(fā)光源:HeCd激光器 ● 激發(fā)光功率:20mW ● 激發(fā)波長:325nm ● 瑞利散射截止濾光片,OD>6 ● 熒光光譜儀光譜范圍:300-850nm(可擴(kuò)展至2500nm) ● 熒光光譜分辨率:優(yōu)于0.2nm(@1200g/mm光柵) ● 波長準(zhǔn)確度:±0.2nm ● 波長重復(fù)性:±0.1nm ● 光探測器:科研級制冷型背感光CCD,300-1000nm ● 可選配閉循環(huán)超低溫制冷機,*低溫度可達(dá)2K ● 系統(tǒng)擴(kuò)展性:系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計,可擴(kuò)展至近紅外波段光譜測量 ● 軟件提供靈活的實驗運行步驟自定義功能,可隨時儲存和提取圖譜,并能夠進(jìn)行復(fù)雜的光譜處理及光譜數(shù)據(jù)間的四則運算系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖PL圖譜 |
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
近紅外光譜分析儀(點擊可看詳細(xì)資料)
火焰光度計
Metorex C100型
ARL? PERFORM'X
UV9600D
全譜直讀光譜儀