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TE致冷CCD光譜儀

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必達泰克光電科技(上海)有限公司

美國

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404

產(chǎn)品介紹

TE致冷CCD光譜儀

Glacier™ X是高性能的TE致冷線陣CCD光譜儀。與非致冷的CCD光譜儀相比,Glacier™ X可以提供更高的動態(tài)范圍,更顯著的降低光譜儀的噪聲,更優(yōu)異的長期穩(wěn)定性,更適合微光檢測和長時間連續(xù)監(jiān)測等應用。它的低檢測波長可達200nm,高可達1050nm。根據(jù)不同的配置,光譜分辨率0.6-4.0nm可選。靈活的配置及完備的應用支持,使其成為眾多的微光檢測、長時間光譜檢測應用需求的理想選擇。

Glacier™ X采用2048像元檢測器,內建16位數(shù)字轉換,高速USB2.0即插即用數(shù)據(jù)接口。

B&W Tek提供靈活的配置以滿足不同的光譜分析應用需求OEM客戶的特殊要求。

產(chǎn)品特點:

  • 紫外-近紅外波段

  • 0.6nm - 4.0nm 光譜分辨率

  • TE致冷/控溫

  • 16位數(shù)字轉換

  • 500 kHz 讀出速度

  • 即插即用USB 2.0數(shù)據(jù)傳輸

  • 提供OEM版本

應用:

  • 紫外可見近紅外 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析及應用

  • 長積分檢測

  • 吸光度測量

  • 反射率測量

產(chǎn)品咨詢

TE致冷CCD光譜儀

必達泰克光電科技(上海)有限公司

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