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J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)

直接聯(lián)系

北京布拉德科技發(fā)展有限公司

美國(guó)

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
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面議

關(guān)注度:

682

產(chǎn)品介紹

J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)是ASI公司的技術(shù)團(tuán)隊(duì)擁有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗(yàn)和LA-ICP-MS方法的研究背景,系統(tǒng)通過(guò)非熱過(guò)程,施加超高激光輻射剝蝕樣品,產(chǎn)生的顆粒能在ICP源完全消解,確保在測(cè)量過(guò)程中獲取高精度、穩(wěn)定的元素或同位素信號(hào),J200LA-fs剝蝕均勻一致,剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學(xué)特性,無(wú)需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),也能進(jìn)行高精度、定量LA-ICP-MS測(cè)量。

設(shè)備特點(diǎn):

1、測(cè)量葉片內(nèi)部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況;

2、同步開關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài);

3、兩個(gè)相機(jī)提供廣角和放大的樣品圖像和廣角圖像呈現(xiàn);

4、自動(dòng)高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài);

5、系統(tǒng)能完成具有挑戰(zhàn)性的化學(xué)分析工作;

6、確保在測(cè)量過(guò)程中獲取高精度、穩(wěn)定的元素或同位素信號(hào);

7、剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學(xué)特性,無(wú)需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo):

激光器工業(yè)級(jí)高頻Ytterbium diode飛秒激光器,343 nm和1030 nm,頻率可調(diào)10KHz
能量控制連續(xù)可調(diào)光學(xué)衰減器,集成激光能量監(jiān)測(cè)單元
激光光閘自動(dòng)光閘保證激光能量穩(wěn)定
激光脈沖能量(激光頭輸出)150μJ/脈沖 @ 343 nm* , 1mJ/脈沖 @ 1030 nm
激光光斑大小控制3-70微米,結(jié)合了自動(dòng)光束擴(kuò)展器和狹縫成像

光斑大小范圍取決于不同設(shè)備的型號(hào),可用戶自定義光斑大小范圍

自動(dòng)X-Y軸100 mm X 100 mm 行程范圍,分辨率0.2微米
自動(dòng)Z軸35mm行程范圍,Z軸可以實(shí)現(xiàn)樣品自動(dòng)高度調(diào)整,分辨率0.5微米
剝蝕點(diǎn)定位紅色激光具有更好的信號(hào)精度,ASI的自動(dòng)對(duì)焦技術(shù)
樣品圖像高分辨率的雙CMOS鏡頭,用于高倍放大和大視野預(yù)覽,支持光學(xué)變焦
樣品成像光源泛光LED燈,同軸反射光和透明光源,正交十字光
氣體控制雙路數(shù)字流量控制器,可選第三個(gè)流量控制器(用于氮?dú)饣蚱渌麣怏w)

電控兩向和三向閥,ASI**氣體控制單元

樣品室Flex™ 樣品室具有系列可更換的墊片,適合不同大小的樣品

Vertex™樣品室具有快速?zèng)_洗效率和大量樣品的運(yùn)送能力

可用戶自定義樣品固定裝置,ASI**LIBS測(cè)量兼容性

與ICP-MS通訊在J200和ICP-MS之間實(shí)現(xiàn)雙向控制
LIBS檢測(cè)器

(僅適用于Tandem系統(tǒng))

Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測(cè)器
儀器軟件Axiom LA系統(tǒng)操作軟件,ASI**的TruLIBS™發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫(kù)(用于Tandem系統(tǒng))

Clarity Femto數(shù)據(jù)處理軟件(處理LA-ICP-MS和LIBS的數(shù)據(jù),進(jìn)行定量計(jì)算/物質(zhì)分類)

激光安全等級(jí)一級(jí)激光產(chǎn)品,樣品加載區(qū)域有光學(xué)安全隔離板,激光自鎖保護(hù)裝置
系統(tǒng)尺寸70” (長(zhǎng)) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(長(zhǎng)) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機(jī))

75” (長(zhǎng)) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(長(zhǎng)) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測(cè)器)

重量600 lbs [272Kg](僅LA主機(jī));600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測(cè)器)
供電要求110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險(xiǎn)10A
質(zhì)保所有硬件和軟件質(zhì)保一年,飛秒激光器質(zhì)保兩年
認(rèn)證CE認(rèn)證
可選項(xiàng)LA升級(jí)為Tandem系統(tǒng)
延保可簽署多年質(zhì)保和服務(wù)協(xié)議

J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,運(yùn)輸效率高,該設(shè)備功能直觀、帶圖形界面,易瀏覽不同的樣品區(qū)域,設(shè)立靈活的采樣方式,用戶簡(jiǎn)單、方便地操作硬件部件,只需簡(jiǎn)單點(diǎn)擊tab鍵,用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統(tǒng)、光模塊、3-D操作臺(tái)、自動(dòng)高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài),不同用戶組可賦予不同的使用權(quán)限,同步開關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài),防止等離子體火焰噴出。預(yù)設(shè)閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。

產(chǎn)品咨詢

J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)

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