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斯達(dá)沃雙光束紫外可見分光光度計(jì)SDW-1900

直接聯(lián)系

北京斯達(dá)沃科技有限公司

北京

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報(bào)價(jià):

面議

關(guān)注度:

401

產(chǎn)品介紹

雙光束紫外可見分光光度計(jì)SDW-1900介紹

雙光束紫外可見分光光度計(jì)SDW-1900是采用全新設(shè)計(jì)的雙光束光學(xué)系統(tǒng)提供了優(yōu)異的光學(xué)性能,設(shè)計(jì)先進(jìn)的電路測控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和極低噪聲,主要應(yīng)用在醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保污水,食品飲料,化學(xué)品檢測,生物產(chǎn)業(yè),石油化工,電廠等相關(guān)行業(yè)。

技術(shù)參數(shù)

顯示方式:6英寸 320×240 點(diǎn)陣帶背光數(shù)字 LCD

光源燈:預(yù)調(diào)德國賀利氏 DX 氘燈 歐司朗長壽命鹵鎢燈

光學(xué)系統(tǒng):精密雙光束光學(xué)系統(tǒng)

接口:USB,RS232C串行通訊口用于接配軟件,并行打印口用于接配打印機(jī)

光譜掃描功能:主機(jī)及軟件支持

電源電壓:100V~240V 50/60±1Hz

儀器尺寸:650×450×230(mm)

凈重:26Kg 溫度:5°C-40°C 濕度:≤85%

分光光度計(jì)功能:

·全新設(shè)計(jì)的雙光束光學(xué)系統(tǒng)提供了優(yōu)異的光學(xué)性能;高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.

·設(shè)計(jì)先進(jìn)的電路測控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和極低的噪聲.

·可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計(jì),易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.

·寬敞型開放式光源室設(shè)計(jì),使燈源更換更加方便.

·關(guān)鍵部件均選用進(jìn)口器件.保證了儀器性能的高可靠性.

·windows 環(huán)境下開發(fā)的中英文操作軟件,.提供了豐富的獨(dú)具特色的分析功能.

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號

SDW-1900

測光方式

透過率、吸光度、能量、反射率

波長范圍

190 nm~1100 nm

光譜帶寬

1.8nm

雜散光

≤±0.03 %T (220 nm ,360nmNaL)

波長準(zhǔn)確度

≤±0.3 nm

波長重復(fù)性

≤0.1nm

波長顯示

波長設(shè)定

0.1nm

0.1nm

光度范圍

0-999.9%(T), -4 A~4 A,0-999,9C,1-9999F

光度準(zhǔn)確度

≤±0.3 %T (0~100 %T)

≤±0.002A(0~0.5A)

≤±0.004A(0.5~1A)

≤±0.006A(2.0A處)

光度重復(fù)性

≤0.15%(T) (0-100%T)

≤± 0.001 A (0~0.5 A)

≤±0.002A(0.5~1A)

基線平直度

≤±0.0008 A (190nm-1100nm),

分光器

穩(wěn)定性

全息光柵

≤±0.0003A/h (700nm,開機(jī)預(yù)熱1h)

噪聲

≤±0.0003 A

電源

100/240V,50/60±1Hz

導(dǎo)數(shù)分率

>0.5

掃描速度

波長移動;約3000nm/min,波長掃描;24nm/min-1400nm/min

光源切換波長

可自動切換,可在295-364nm范圍內(nèi)任意設(shè)定切換波長

儀器功能:

·光度測量 可同時(shí)測量1~6個(gè)波長處的透過率和吸光度.

·光譜測量 在波長范圍內(nèi)進(jìn)行透過率、吸光度、透射率、反射率和能量的圖譜掃描,并可進(jìn)行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算、譜圖運(yùn)算等.

·定量測量 單波長、雙波長、三波長和多波長測定.1~9點(diǎn)工作曲線(1~3次)回歸.

·動力學(xué)測定 在任意設(shè)定的波長處進(jìn)行透過率和吸光度的時(shí)間掃描并可進(jìn)行各種數(shù)據(jù)運(yùn)算.

·數(shù)據(jù)輸出 可進(jìn)行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測量結(jié)果以標(biāo)準(zhǔn)通用的數(shù)據(jù)文件格式輸 出.

PC版軟件功能

基于Windows環(huán)境下開發(fā)的UVCON控制軟件,可對主機(jī)進(jìn)行全面控制。

包括數(shù)據(jù)采集(單點(diǎn)測量、多點(diǎn)測量、光譜掃描、定量測定、時(shí)間掃描及DNA測定)和各種數(shù)據(jù)處理。

● 標(biāo)準(zhǔn)化、峰谷檢測、面積計(jì)算

● 圖譜的放大、縮小、平滑、倒數(shù)、四則運(yùn)算、T-A轉(zhuǎn)換

● 單波長、多波長定量測定

● K系數(shù)法、一點(diǎn)工作曲線法、多點(diǎn)工作曲線法,可進(jìn)行1~3次函數(shù)擬合

● 定量分析中的異常點(diǎn)剔除法

● 可對曲線系數(shù)進(jìn)行校正

● 掃描圖譜、工作曲線和測試結(jié)果可海量存儲

● 測試報(bào)告以標(biāo)準(zhǔn)文件格式輸出

● 打印機(jī)可以任意選擇

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斯達(dá)沃雙光束紫外可見分光光度計(jì)SDW-1900

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