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基于普通透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理，增加顯微光路和成像CCD對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行精確定位，用小尺寸光斑（0.1mm）測(cè)試樣品微小區(qū)域的相/**透射率。采用數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦更準(zhǔn)確、測(cè)試速度更快，可調(diào)光斑孔徑大小達(dá)到了****的*小尺寸，更好的適應(yīng)了市場(chǎng)上越來(lái)越精細(xì)的測(cè)試樣品。專(zhuān)門(mén)用于手機(jī)蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區(qū)域的透過(guò)率檢測(cè)。

儀器特點(diǎn)：

• CCD全波長(zhǎng)快速檢測(cè)器， 1秒出結(jié)果，快速完成產(chǎn)品全檢

• 0.3、0.5、0.8、1.0mm四種測(cè)量光束直徑可更換

• 優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性達(dá)0.1nm

• 高精度的光度測(cè)定

• 高信噪比，*小化雜散光

應(yīng)用范圍：

• 手機(jī)面板IR孔透光率測(cè)量

• 鍍膜片濾光片透光率測(cè)量

• 微觀顆粒的可視化檢測(cè)分析 新型材料檢測(cè)分析

• 涂層色度檢測(cè)分析

技術(shù)參數(shù)：