粉體行業(yè)在線展覽
PLANUM-3000
面議
PLANUM-3000
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Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀用于快速測量各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜,可進(jìn)行多角度**反射率、相對反射率、透射率測量,偏振光測量,膜性測量,顏色測量等。
儀器特點(diǎn):
自定義多角度透反射測量
測量對象:
棱鏡 平行平板、平晶
濾光片 紅外截止片
技術(shù)參數(shù):
型號 | PLANUM-3000 |
---|---|
探測器 | Hamamatsu背照式CCD陣列 |
檢測范圍 | 380-1100nm |
波長分辨率 | 1nm |
信噪比(全信號) | 1000:1 |
相對檢測誤差 | <0.2%(410-900nm) |
操作方式 | 自動 |
角度分辨率 | <0.0002° |
重復(fù)定位精度 | <0.005° |
旋轉(zhuǎn)**速度 | 25°/s |
透射測量角度 | 0-80°(小樣品0-50°) |
反射測量角度 | 5-80° |
單次測量時(shí)間量 | <1s |
S/P光測量 | 支持 |
樣品尺寸 | >Φ3mm |
操作系統(tǒng)/接口 | Windows7~Windows10/ USB2.0 |
電源/功率 | 220V-50HZ /100W |
其它 | 可自定義打印報(bào)表格式,開放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫 |
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
近紅外光譜分析儀(點(diǎn)擊可看詳細(xì)資料)
火焰光度計(jì)
Metorex C100型
ARL? PERFORM'X
UV9600D
全譜直讀光譜儀