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光譜檢測分析儀

>Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

PLANUM-3000

直接聯(lián)系

海洋光學(xué)亞洲公司

廣州

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報(bào)價(jià):

面議

型號:

PLANUM-3000

關(guān)注度:

793

產(chǎn)品介紹

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀用于快速測量各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜,可進(jìn)行多角度**反射率、相對反射率、透射率測量,偏振光測量,膜性測量,顏色測量等。

儀器特點(diǎn):

自定義多角度透反射測量


測量對象:


        棱鏡                           平行平板、平晶


    濾光片                             紅外截止片

技術(shù)參數(shù):

型號

PLANUM-3000

探測器

Hamamatsu背照式CCD陣列

檢測范圍

380-1100nm

波長分辨率

1nm

信噪比(全信號)

1000:1

相對檢測誤差

<0.2%(410-900nm)

操作方式

自動

角度分辨率

<0.0002°

重復(fù)定位精度

<0.005°

旋轉(zhuǎn)**速度

25°/s

透射測量角度

0-80°(小樣品0-50°)

反射測量角度

5-80°

單次測量時(shí)間量

<1s

S/P光測量

支持

樣品尺寸

>Φ3mm

操作系統(tǒng)/接口

Windows7~Windows10/ USB2.0

電源/功率

220V-50HZ /100W

其它

可自定義打印報(bào)表格式,開放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫

產(chǎn)品咨詢

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

PLANUM-3000

海洋光學(xué)亞洲公司

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