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輝光放電質(zhì)譜分析法(GD-MS)是一種分析導體和非導體材料特性的**方法。它幾乎能夠定量檢測從元素鋰到鈾范圍內(nèi)的所有元素，以及從集體到亞ppb之間的各種含量。

Nu儀器公司旗下的Astrum產(chǎn)品將輝光放電離子源與高分辨率質(zhì)譜相結(jié)合，不論在低溫冷卻的鉭離子源/樣品池設計還是在快速樣品更換系統(tǒng)、抑或是定制的控制軟件方面，都是GD-MS儀器領(lǐng)域的一次重大改進，設備持久耐用，設計成熟，確保能在*少停機維護的情況下長時間正常運行。

Astrum-主要特性

1.基于成熟技術(shù)設計的輝光放電離子源；

2.低流速靜態(tài)放電以獲得**的穩(wěn)定性；

3.便于清洗的金屬鉭材料制成的樣品池；

4.可做陣狀和片狀樣品，滿足樣品分析的**靈活性；

5.特有的裝載推桿便于檢測樣品的更換；

6.低溫液氮冷卻離子源用于低熔點樣品分析并**程度減少氣體背景；

7.基于成熟技術(shù)設計的雙聚焦質(zhì)譜儀；

8.連續(xù)可調(diào)高分辨率能力，范圍從400到10000以上（10%封谷）；

9.法拉第杯和離子計時器結(jié)合達到寬動態(tài)范圍；

10.一次掃描可測定含量從基體到亞ppb之間的所有元素；

11.特制的電子部件可檢測所有儀器參數(shù)；

12獨特的真空系統(tǒng)設計；

13.專門配合設計的操作軟件；便于直觀的對儀器進行控制和數(shù)據(jù)分析。

主要應用領(lǐng)域

材料分析

（導體，半導體，非導體，高純，超高純，合金，晶體等等）