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SGH-2等厚干涉綜合實驗

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天津港東科技股份有限公司

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產品介紹

儀器介紹

近平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜/空氣間隙等物質上，其上下表面的反射光干涉而形成的干涉條紋。薄膜/空氣間隙厚度相同的地方形成同條干涉條紋，故稱等厚干涉。本實驗除了研究典型的牛頓環(huán)和楔形平板干涉以外，還研究了一些牛頓環(huán)裝置的變種，如正交柱面鏡等形成的橢圓，雙曲等干涉條紋現象。

可開設實驗列表

觀測牛頓環(huán)干涉現象

測量平凸透鏡曲率半徑

觀測劈尖干涉現象

用劈尖干涉測量細絲直徑

觀測柱面鏡雙曲線干涉現象

通過柱面鏡橢圓曲線測量柱面鏡曲率半徑

規(guī)格參數

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SGH-2等厚干涉綜合實驗

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