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美國Apogee國外進口SS-120光譜輻射計

直接聯(lián)系

北京華益瑞科技有限公司

美國

產品規(guī)格型號

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446

產品介紹

SS-110及SS-120是美國Apogee公司生產的一款新型小巧光譜測量儀，配套監(jiān)測軟件，可以直接測量不同輻射源（如：植被或人造光源）的輻射通量密度，光量子通量密度，天然和合成表面和材料（如：植物葉片和冠層）的反射輻射或透射測量等。

典型應用

通過軟件處理，可以直接測量不同輻射源（如：植被或人造光源）的輻射通量密度，光量子通量密度，天然和合成表面和材料（如：植物葉片和冠層）的反射輻射或透射測量等。

技術參數

型號	SS-110	SS-120
光譜范圍	340-820nm	635-1100nm
光譜測量間隔	1.0nm
光譜分辨率	3.0nm
光譜精度	± 0.5 nm
光譜重復性	± 0.2 nm
模擬/數字轉換	14bit
信號噪聲比	1500:1
雜散光	≤ 0.25 % at 590 nm	≤ 0.25 % at 850 nm
噪音	≤3 counts
積分時間范圍	10 ms～10 s
線性	＜1%或0.5%
測量靈敏度	＞10% (波長大于380nm)	＞10% (波長小于1030nm)
測量重復性	＜1%（波長大于400nm）	＜1%（波長小于1020nm）
方向（余弦）響應	±5%（在天頂角75°時）
視角	180°（朝上安裝的傳感器）	25°或150°（朝下安裝的傳感器）
溫度響應	-0.1±0.1%/℃
輻照度校準不確定度	±5%
電流	190mA (USB測量)
功耗	1W（USB測量）
通訊	USB端口
軟件	Apogee配套軟件 (Windows， XP及以后版本；Mac操作系統(tǒng)，10.9及以后版本)
工作環(huán)境	-20～+70℃; 0～100%RH
重量	300g
尺寸	89.3mm(H)， 50.8mm(W)， 38.1mm (L)

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