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面議
408
日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的混合模式帶有兩種研磨配置:
斷面加工:將樣品斷面研磨光滑,便于表面以下結(jié)構(gòu)高分辨成像。
平面研磨:將樣品表面均勻研磨5平方毫米,從不同角度有選擇地研磨,以便突出樣品的表面特性。
日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的高通量能提高加工效率:與之前的E-3500型相比,采用新型離子槍設(shè)計(jì),減少了橫截面研磨時(shí)間。(**加工率:硅元素為300微米/小時(shí)--加工時(shí)間減少了66%。
日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的可拆卸樣品臺(tái)裝置:為便于樣品設(shè)置和定義研磨邊緣,可將樣品臺(tái)裝置拆卸。
斷面加工:將樣品斷面研磨光滑,便于表面高分辨觀察
平面研磨:不同角度有選擇地,大面積,均勻地研磨5 mm的平面,以突顯樣品的表面特性
規(guī)格
項(xiàng)目 | 描述 | |
斷面加工臺(tái) | 平面研磨臺(tái) | |
氣源 | 氬氣(Ar) | |
加速電壓 | 0-6Kv | |
**研磨速率﹡1﹡2(硅材質(zhì)) | 約300μm/h﹡1﹡2 | 約20μm/h﹡3(點(diǎn)) 約2μm/h﹡?(面) |
**樣品尺寸 | 20(W)×12(D)×7(H)mm | Φ50×25(H)mm |
樣品移動(dòng)范圍 | X±7mm,Y0-+3mm | X0-+5mm |
旋轉(zhuǎn)角度 | - | 1r/m,25r/m |
擺動(dòng)角度 | ±15°,±30°,±40° | ±60°,±90° |
傾斜 | - | 0-90° |
氣體流量控制系統(tǒng) | 流量調(diào)節(jié)器 | |
排氣系統(tǒng) | 渦輪分子泵(33L/S)+機(jī)械泵(50Hz時(shí),135L/min,60Hz時(shí),162L/min) | |
儀器外觀尺寸 | 616(W)×705(D)×312(H)mm | |
儀器重量 | 主機(jī)48kg+機(jī)械泵28Kg | |
可選附件 | 光學(xué)顯微鏡(用于觀測(cè)研磨中的樣品) | |
﹡1:此研磨速率是對(duì)研磨板邊緣處的硅材質(zhì)的材料研磨至100μm粒度時(shí)所獲得的**深度值 ﹡2:此研磨速率是對(duì)硅材質(zhì)的材料進(jìn)行研磨兩小時(shí)后獲得的平均值 ﹡3:照射角度60°偏心值4mm ﹡?:照射角度0°偏心值0mm |
TH-F120
BL-GHX-VK
ParticleX TC
觀世
在線濁度計(jì)
SuperSEM
CELL PAT
FS500全譜直讀光譜儀
OES1000
在線折光儀PRB21
蜂鳥10X42