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面議
469
AFM5500M是操作性和測(cè)量精度大幅提高,配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對(duì)中,測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測(cè)量精度大幅提高。并且,通過SEM-AFM共享坐標(biāo)樣品臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
特點(diǎn)
1. 自動(dòng)化功能
高度集成自動(dòng)化功能追求高效率檢測(cè)
降低檢測(cè)中的人為操作誤差?
4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)
自動(dòng)更換懸臂功能
2. 可靠性
排除機(jī)械原因造成的誤差
大范圍水平掃描
采用管型掃描器的原子力顯微鏡,針對(duì)掃描器圓弧運(yùn)動(dòng)所產(chǎn)生的曲面,通常通過軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)。但是,用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運(yùn)動(dòng)的影響,圖片上經(jīng)常發(fā)生扭曲效果。AFM5500M搭載了**研發(fā)的水平掃描器,可實(shí)現(xiàn)不受圓弧運(yùn)動(dòng)影響的準(zhǔn)確測(cè)試。
樣品:硅片上的非晶硅薄膜
高精角度測(cè)量
普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器,在豎直伸縮的時(shí)候,會(huì)發(fā)生彎曲(crosstalk)。這是圖像在水平方向產(chǎn)生形貌誤差的直接原因。AFM5500M中搭載的全新掃描器,在豎直方向上不會(huì)發(fā)生彎曲(crosstalk) ,可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。
樣品 : 太陽能電池(由于其晶體取向具有對(duì)稱結(jié)構(gòu))
* 使用AFM5100N(開環(huán)控制)時(shí)
3. 融合性
親密融合其他檢測(cè)分析方式
通過SEM-AFM的共享坐標(biāo)樣品臺(tái),可實(shí)現(xiàn)在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌,結(jié)構(gòu),成分,物理特性等。
SEM-AFM在同一視野觀察實(shí)例(樣品:石墨烯/SiO2)
上圖是AFM5500M拍攝的形貌像(AFM像)和電位像(KFM像)分別和SEM圖像疊加的應(yīng)用數(shù)據(jù)。
通過分析AFM圖像可以判斷,SEM對(duì)比度表征石墨烯層的厚薄。
石墨烯層數(shù)不同導(dǎo)致表面電位(功函數(shù))的反差。
SEM圖像對(duì)比度不同,可以通過SPM的高精度3D形貌測(cè)量和物理特性分析找到其原因。
與其他顯微鏡以及分析儀器聯(lián)用正在不斷開發(fā)中。
TH-F120
BL-GHX-VK
ParticleX TC
觀世
在線濁度計(jì)
SuperSEM
CELL PAT
FS500全譜直讀光譜儀
OES1000
在線折光儀PRB21
蜂鳥10X42