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JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫(yī)療、制藥、半導體到納米技術。

利用200kV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。

高亮度的場發(fā)射電子槍，輕松實現(xiàn)各種分析功能。

JEM-2100F**設計的側插式側角臺，在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。

SJEM-2100F可與TEM， MDS， EDS， EELS， and CCD-camera實現(xiàn)一體化控制。