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光學(xué)測(cè)試支架

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上海聞奕光電科技有限公司

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產(chǎn)品介紹

上海聞奕光電科技有限公司生產(chǎn)的微型光學(xué)反射率測(cè)試平臺(tái)具有中心穩(wěn)，多方向控制光纖入射和出射角度的特點(diǎn)。廣泛用于需要非固定角度測(cè)量。

聞奕光電的反射是光譜測(cè)量的基本手段。實(shí)現(xiàn)反射光譜測(cè)量，通常需要光譜儀、光源、光纖、測(cè)量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和測(cè)量軟件等。對(duì)于不同種類的樣品，為了獲取**的光譜數(shù)據(jù)，反射這種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。

聞奕光電利用這些配置豐富的設(shè)備，就可以搭建各種常見的光譜測(cè)量系統(tǒng)。反射光譜測(cè)量系統(tǒng)可以配置1個(gè)或者2個(gè)支架，用于固體和粉末樣品的反射率測(cè)量。本產(chǎn)品也可以用來固定光纖探頭和光源，具有非常好的靈活性和實(shí)用性。

FS系列反射支架型號(hào)選擇：

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