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PHL雙折射應(yīng)力儀WPA-Micro

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北京歐屹科技有限公司

日本

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產(chǎn)品介紹

應(yīng)力雙折射儀

WPA-100-MICRO顯微大相位差應(yīng)力雙折射儀

應(yīng)力雙折射儀器簡(jiǎn)介：

應(yīng)力雙折射儀，能夠快速測(cè)量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。

日本Photonic-lattice成立于1996年，以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)世界，并由此開(kāi)發(fā)出的測(cè)量?jī)x器。

PHL顯微鏡下的雙折射測(cè)量 WPA-100-MICRO

匹配顯微鏡測(cè)量雙折射

測(cè)量光學(xué)薄膜、鋼化玻璃、有機(jī)晶體

薄膜、金屬晶體、不透明基板等材料

在顯微鏡視場(chǎng)下評(píng)估和管理雙折射分布

PHL應(yīng)力雙折射儀器參數(shù)：

型號(hào)	WPA-Micro
測(cè)量范圍	0-4000nm
重復(fù)性	<1.0nm
像素?cái)?shù)	384x288
測(cè)量波長(zhǎng)	523nm，543nm，575nm
尺寸	250x487x690.0mm
觀測(cè)到的面積	5倍物鏡：1.1x0.8mm;10倍物鏡：0.5x0.4mm；20倍物鏡：270x200um;50倍物鏡：110x80um;100倍物鏡：55x40um.
自身重量	11kg
數(shù)據(jù)接口	GigE（攝像機(jī)信號(hào)） RS232C（電機(jī)控制）
電壓電流	AC100-240V（50/60Hz）
軟件	WPA-View（for Micro）

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