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PHL顯微型應(yīng)力雙折射儀

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北京歐屹科技有限公司

日本

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產(chǎn)品介紹

PHL應(yīng)力雙折射儀器

PHL PA-micro顯微型應(yīng)力雙折射儀

PHL應(yīng)力雙折射儀器簡介：

應(yīng)力雙折射儀，能夠快速、精準(zhǔn)測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。

日本Photonic-lattice成立于1996年，以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)**世界，并由此開發(fā)出的測量儀器。

PHL應(yīng)力雙折射儀在顯微鏡下快速測量PA-Micro：

型號(hào)	PA-Micro
測量范圍	0-130nm
重復(fù)性	<1.0nm
像素?cái)?shù)	1120x868
測量波長	520nm
尺寸	250x487x690mm
觀測到的**面積	5倍物鏡：1.1x0.8mm;10倍物鏡：0.5x0.4mm；20倍物鏡：270x200um;50倍物鏡：110x80um;100倍物鏡：55x40um.
自身重量	11kg
數(shù)據(jù)接口	千兆以太網(wǎng)（攝像機(jī)信號(hào)）
電壓電流	AC100-240V（50/60Hz）
軟件	PA-View（for Micro）

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PHL顯微型應(yīng)力雙折射儀

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