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PHL膜厚測(cè)試儀/橢偏儀SE-101

直接聯(lián)系

北京歐屹科技有限公司

日本

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
參考報(bào)價(jià)：

面議

關(guān)注度：

706

產(chǎn)品介紹

膜厚測(cè)試儀

橢偏儀

應(yīng)力雙折射儀，能夠快速、精準(zhǔn)測(cè)量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。

日本Photonic-lattice成立于1996年，以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)**世界，并由此開發(fā)出的測(cè)量?jī)x器。

根據(jù)應(yīng)用不同，我們特別開發(fā)出5款不同的的膜厚測(cè)試儀/橢偏儀，每一款產(chǎn)品各具不同的特點(diǎn)。

PHL緊湊型桌面式橢偏儀 SE-101

型號(hào)

SE-101

重復(fù)性

厚度0.1nm，折射率0.001

測(cè)量速度

0.05秒/測(cè)量點(diǎn)

光源

636nm 半導(dǎo)體激光器

測(cè)量點(diǎn)

1mm

入射角

70度

測(cè)量尺寸

4英寸，

儀器尺寸和重量

250x175x218.3mm/4kg

數(shù)據(jù)接口

千兆以太網(wǎng)（攝像機(jī)信號(hào)），RS-232C

功率

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

SE-View

湊型桌面式橢偏儀 SE-102

型號(hào)

SE-102

重復(fù)性

厚度0.1nm，折射率0.001

測(cè)量速度

0.05秒/測(cè)量點(diǎn)

光源

636nm 半導(dǎo)體激光器

測(cè)量點(diǎn)

1mm

入射角

70度

測(cè)量尺寸

4英寸，1軸自動(dòng)，2軸手動(dòng)

儀器尺寸和重量

300x235x218.3mm/4kg

數(shù)據(jù)接口

千兆以太網(wǎng)（攝像機(jī)信號(hào)），RS-232C

功率

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

SE-View

快速映射橢偏儀 ME-110

型號(hào)

ME-110

重復(fù)性

厚度0.1nm，折射率0.001

測(cè)量速度

每分鐘1000個(gè)點(diǎn)以上

光源

636nm 半導(dǎo)體激光器

測(cè)量點(diǎn)

0.5mm

入射角

70度

測(cè)量尺寸

6英寸

儀器尺寸和重量

650x650x1740mm/120kg

數(shù)據(jù)接口

千兆以太網(wǎng)（攝像機(jī)信號(hào)），RS-232C

功率

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

SE-View

型號(hào)

ME-110

重復(fù)性

厚度0.1nm，折射率0.001

測(cè)量速度

每分鐘1000個(gè)點(diǎn)以上

光源

636nm 半導(dǎo)體激光器

測(cè)量點(diǎn)

0.0055-0.5mm

入射角

70度

測(cè)量尺寸

6英寸

儀器尺寸和重量

650x650x1740mm/120kg

數(shù)據(jù)接口

千兆以太網(wǎng)（攝像機(jī)信號(hào)），RS-232C

功率

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

SE-View

允許厚度分布的測(cè)量，例如，透明電極膜和取向膜與基底玻璃的透明基板

型號(hào)

ME-110-T

重復(fù)性

厚度0.1nm，折射率0.001

測(cè)量速度

每分鐘1000個(gè)點(diǎn)以上

光源

636nm 半導(dǎo)體激光器

測(cè)量點(diǎn)

0.5mm

入射角

70度

測(cè)量尺寸

6英寸

儀器尺寸和重量

650x650x1740mm/120kg

數(shù)據(jù)接口

千兆以太網(wǎng)（攝像機(jī)信號(hào)），RS-232C

功率

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

SE-View

高速，高解析度的表面分布測(cè)量

產(chǎn)品咨詢

PHL膜厚測(cè)試儀/橢偏儀SE-101

北京歐屹科技有限公司

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