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PHL殘余應力測量儀

直接聯(lián)系

北京歐屹科技有限公司

日本

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報價:

面議

關注度:

402

產(chǎn)品介紹

主要簡介:

WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC等高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,獨特的測量技術(shù),高速而又精確的測量能力使其成為****的光學測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應力分布??蓽y數(shù)千nm高相位差分布的機器,*適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

主要特點:

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

  • 采用CCD Camera,視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。

  • 測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

  • 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

  • 維護簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構(gòu)。

  • 可測樣品尺寸更大。

主要應用:

·光學零件(鏡片、薄膜、導光板)

·透明成型品(車載透明零件、食用品容器)

· 透明樹脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC

· 透明基板(玻璃、石英、藍寶石、單結(jié)晶鉆石)

· 有機材料(球晶、FishEve

技術(shù)參數(shù)

項次

項目

具體參數(shù)

1

輸出項目

相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa

2

測量波長

520nm、543nm、575nm

3

雙折射測量范圍

0-3500nm

4

測量*小分辨率

0.001nm

5

測量重復精度

<1nm(西格瑪)

6

視野尺寸

33x40mm-240×320mm(標準)

7

選配鏡頭視野

3×4-12.9×17.2mm

8

選配功能

實時解析軟件,鏡片解析軟件,數(shù)據(jù)處理軟件,實現(xiàn)外部控制

測量案例:

產(chǎn)品咨詢

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PHL殘余應力測量儀 - 402
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