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PHL雙折射測量儀PA-300-L

直接聯(lián)系

北京歐屹科技有限公司

日本

產(chǎn)品規(guī)格型號
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332

產(chǎn)品介紹

PA-300-L主要簡介

PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其**技術的光子晶體偏光陣列片,獨有的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。

主要特點:
  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

  • 視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。

  • 更直觀的全面讀取數(shù)據(jù),無遺漏數(shù)據(jù)點。

  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

  • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。

  • 高達2056x2464像素的偏振相機。

應用領域:
  • 光學鏡片

  • 智能手機玻璃基板

  • A4紙尺寸的樣品

技術參數(shù):
項次 項目 具體參數(shù)
1輸出項目 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】
2測量波長520nm
3雙折射測量范圍0-130nm
4測量*小分辨率0.001nm
5測量重復精度<1nm(西格瑪)
6視野尺寸40x48mm到240x320mm(標準)
7選配鏡頭視野低至7x8.4(擴束鏡頭)
8選配功能 實時解析軟件,鏡片解析軟件,數(shù)據(jù)處理軟件,實現(xiàn)外部控制
測量案例

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