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美國Microvision System成立于1993年，是全球顯示器測試系統(tǒng)的主要供應(yīng)商，可以檢測FPD CRT，PLASMA， HDTV， OLED， HUD， HDD投影機(jī)等，應(yīng)用于R&D， QC及工業(yè)測試。Microvision System以技術(shù)先進(jìn)的產(chǎn)品及完善的售后服務(wù)，贏得用戶的尊敬。

系統(tǒng)功能說明：

Microvision顯示器測量系統(tǒng)可選擇兩種取樣探頭SS410及SS420，使用一組抵用平臺(tái)和控制電腦，經(jīng)由專業(yè)控制軟件，進(jìn)行顯示器光學(xué)特性的自動(dòng)測量和分析。

Microvision+SS410-XE+顯示屏測量系統(tǒng)

SS410-XE顯示屏測量系統(tǒng)

應(yīng)用領(lǐng)域：

顯示屏技術(shù)

自動(dòng)測量平臺(tái)

-TCO顯示器6.0和TCO筆記本

-ISO 9241-307標(biāo)準(zhǔn)

-VESA FPDM 2.0

-定制（用戶自定義）測量平臺(tái)

SS410-XE測量

CCD測量

- 光點(diǎn)亮度分析

- 線寬

-快速傅立葉轉(zhuǎn)換(FFT’s)

-MTF調(diào)制轉(zhuǎn)換函數(shù)計(jì)算

-收斂測試

-幾何圖（(Pincushion， Linearity， etc.)，可以得到所有幾何失真的參數(shù)

-時(shí)變性測量(Jitter， Swim， Drift)

光譜儀

-亮度

-色度和色溫

-亮度/色彩均勻度

-可見光譜的頻譜圖

-伽馬

-對(duì)比度

-色差

-3D顯示分析

-3D眼鏡測量

RTM(選配)

-動(dòng)態(tài)模糊/動(dòng)態(tài)偽像/MPRT

-響應(yīng)時(shí)間和閃光

-灰階轉(zhuǎn)換時(shí)間

SS410-XE特征

-高分辨率1392x1040 12位元數(shù)字CCD相機(jī)

-衍射光柵光譜儀

-自動(dòng)測量

-實(shí)時(shí)圖像處理

-模式發(fā)生器（模擬和數(shù)字驅(qū)動(dòng)）

-響應(yīng)時(shí)間模組（選配）

-余弦擴(kuò)散器

SS410-XE系統(tǒng)簡介：

Microvision的SS410-XE顯示屏測量系統(tǒng)滿足了廣泛的測量需求以及具有自動(dòng)測試和分析功能。SS410-XE是一套全方位鑰匙系統(tǒng)，包括了一臺(tái)計(jì)算機(jī)控制器，CCD和光譜儀數(shù)據(jù)采集相機(jī)。同時(shí)包括了三軸計(jì)算機(jī)控制定位系統(tǒng)，使得相機(jī)系統(tǒng)可快速、自動(dòng)定位在UUT表面的任何位置。定位系統(tǒng)還能快速連接和斷開任何一個(gè)SS400系列模組。系統(tǒng)信息展示采用了窗口用戶界面以及測試結(jié)果生動(dòng)地展示在簡易界面以及可以以文本或者CSV日記文件的格式導(dǎo)出。

自動(dòng)測試平臺(tái)

一個(gè)測試平臺(tái)是一套預(yù)定義或者用戶定義的測量平臺(tái)。預(yù)定義的測量平臺(tái)專門適用于工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，比如ISO，TCO和VESA。 并且提供了電子數(shù)據(jù)表自動(dòng)計(jì)算出所有通過/失敗標(biāo)準(zhǔn)。用戶自定義平臺(tái)可以簡單地組裝儀器檢測可檢測列表中所需功能的各個(gè)參數(shù)。操作簡單，菜單驅(qū)動(dòng)界面友好，能在幾分鐘內(nèi)兼容各種定制測試平臺(tái)。每個(gè)用戶自定義測量平臺(tái)都可以保存并且能夠在未來要使用時(shí)重新激活。測試平臺(tái)同時(shí)提供了保存每個(gè)測試屏幕到BMP文件的功能，這樣大大提高了結(jié)果處理的有效性。

系統(tǒng)組件：

機(jī)械定位系統(tǒng)

MicroVision的定位系統(tǒng)提供了水平（X），垂直（Y）和縱向（Z）軸移動(dòng)，全集成了驅(qū)動(dòng)電子，電源和置于水平位置的接口。定位器的控制通過軟件控制或者通過使用鼠標(biāo)或者鍵盤進(jìn)行自動(dòng)操作。

系統(tǒng)軟件

SS410-XE系統(tǒng)適用于Win7操作系統(tǒng)，因?yàn)樵?/span>Win7操作系統(tǒng)中GUI可允許系統(tǒng)的易點(diǎn)和點(diǎn)擊操作和控制。GUI使得軟件操作直觀以及提供完成一系列的顯示屏分析和測量功能。測量數(shù)據(jù)以文本文件報(bào)告生成，以及以全彩色圖的形式展示以便更簡單地集成結(jié)果。

SS410-XE光學(xué)模塊

Microvision的SS4410-XE模塊可進(jìn)行空間、光像、時(shí)域和色彩測量。模塊包括了三個(gè)不同的光學(xué)系統(tǒng)：CCD相機(jī)，衍射光柵光譜儀以及一個(gè)選配的響應(yīng)時(shí)間模塊(RTM)。具有自動(dòng)控制機(jī)械快門，在沒有操作員介入的情況下也可實(shí)現(xiàn)偏振/暗電流校準(zhǔn)。

光學(xué)

SS410-XE光譜儀光學(xué)系統(tǒng)包括了一個(gè)12mm準(zhǔn)直鏡頭和一個(gè)石英消偏器。一個(gè)選配的余弦用于測量照度值。SS410-XE CCD光學(xué)模塊系統(tǒng)包括了一個(gè)25MM C Mount鏡頭和間隔工具。標(biāo)準(zhǔn)的放大率允許了11MM樣本（平方）和可增加間隔或者提高或者減小放大率。提供了Ronchi Ruling用于空間校準(zhǔn)。選配的RTM模塊采用了一個(gè)25MM C Mount鏡頭。

CCD相機(jī)

SS410—XE相機(jī)是一款數(shù)字化1392*1040 CCD帶有同步捕捉功能和6.45微米元素尺寸，平方。相機(jī)可校準(zhǔn)到NIST可追溯標(biāo)準(zhǔn)和一個(gè)光學(xué)濾鏡是專門設(shè)計(jì)用于測量亮度。CCD相機(jī)提供了空間和亮度測量。

計(jì)算機(jī)系統(tǒng)

先進(jìn)的臺(tái)式電腦或者可以選擇筆記本電腦進(jìn)行所有系統(tǒng)組件的控制。

光譜儀

SS410-XE是配置了非常高分辨率，多元素，溫度控制衍射光柵光譜儀。儀器校準(zhǔn)到NIST可追溯標(biāo)準(zhǔn)以及通過使用計(jì)算機(jī)控制傳感穩(wěn)定溫度進(jìn)行校準(zhǔn)。光譜儀提供了亮度和色度的測量，同時(shí)可測量整個(gè)可見光譜（380nm-780nm）中的頻譜圖。可選擇近紅外NIR。光纖組件纜線設(shè)定了光從測量表面發(fā)出到光譜儀的路徑。由此產(chǎn)生的光譜會(huì)成像于2048元素CCD探測器以及數(shù)據(jù)會(huì)通過一個(gè)16位元A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換到計(jì)算機(jī)

SS410-XE系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)

高分辨率數(shù)字CCD相機(jī)：

衍射光柵光譜儀

范圍包括了中性濾光片的使用。