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德國進(jìn)口JETI過程質(zhì)譜儀Versa PS 2000

直接聯(lián)系

廣州市固潤光電科技有限公司

德國

產(chǎn)品規(guī)格型號

參考報價：

面議

關(guān)注度：

478

產(chǎn)品介紹

德國進(jìn)口JETI過程質(zhì)譜儀Versa PS 2000介紹

過程質(zhì)譜儀 Versa PS 2000 是為在線透射測定和及時測量生產(chǎn)過程中的光層而設(shè)計的。它也可用于其他光學(xué)測試，例如：涂覆過程中液體或者反射光的光譜傳輸測量

PS 2000的特點(diǎn)

·快速精準(zhǔn)測量 (測量時間低至10 μs)

·快速讀取

·多種數(shù)據(jù)接口

·由外部位置傳感器讀出

·性能穩(wěn)定可靠

Versa PS2000的固件能夠預(yù)處理測量數(shù)據(jù)，所以我們的過程光譜儀能夠處理計算進(jìn)程數(shù)據(jù)，例如反射率和光層厚度Versa PS 2000也可與一個外部光源（鹵素?zé)艋蛘唣逇忾W光燈）

應(yīng)用 數(shù)據(jù)

·在線光譜測試 ·USB (high or full speed)

·真空沉積的過程控制 ·LAN

·薄膜厚度測試 ·RS 232/ 422/ 485

·儀器儀表分析

·多通道光譜分析系統(tǒng)

產(chǎn)品描述

·存儲的參考參數(shù)

·數(shù)據(jù)預(yù)處理，暗信號矯正， **校準(zhǔn)

·內(nèi)部計算平均值、插值、傳輸率、反射率、吸收率、色度坐標(biāo)等參數(shù)

·基于DLL的SDK和SCPI（儀器標(biāo)準(zhǔn)指令）可兼容的控制語法

·軟件和硬件的觸發(fā)

規(guī)格參數(shù)

光學(xué)參數(shù)
光譜范圍	200 nm ... 1000 nm
光譜儀	flat field holographic grating， aberration correction mirror
光譜帶寬	≤ 4.0 nm FWHM (100 μm slit) ≤ 2.5 nm FWHM (50 μm slit) ≤ 2.0 nm FWHM (30 μm slit)
不對稱因子	≥ 0.7
光輸入	200 mm 光纖帶F-SMA 905接頭
波長準(zhǔn)確性	≤ 0.2 nm (HgAr 線性光)
波長重復(fù)性	≤0.02 nm (HgAr 線性光)
雜散光	< 0.2 % (ASTM E387， GG495，波長 = 420 nm/ 600 nm)
動力	取決于探頭類型
探頭	25 mm BTCCD， CMOS， NMOS*
電子參數(shù)
數(shù)字解析度	16 bit
AD噪聲	2 counts RMS
采樣速率	up to 4 MS/ s
數(shù)據(jù)傳輸率	up to 40 Mb/ s (via High Speed USB)
集成時間	0.01 ... 65535 ms
觸發(fā)延遲	10 μs
抖動	≤2μs
數(shù)據(jù)接口	USB Ethernet or RS 422/485 RS 232
電源	110 … 220 V or PoE (if Ethernet is used)
機(jī)械參數(shù)
體積	25 cm x 25 cm x 15 cm
重量	3 kg
標(biāo)配清單	主機(jī)、配套軟件、電源線、JETI軟件開發(fā)包、操作手冊

其他配件可依客戶需求訂配

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