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日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000

直接聯(lián)系

日立科學(xué)儀器(北京)有限公司

日本

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報(bào)價:

面議

關(guān)注度:

461

產(chǎn)品介紹

日立高新技術(shù)公司于2016年4月15日在全球發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊,占地面積小,但分辨率不輸大型電鏡,同時操作極其簡便,幾乎不用培訓(xùn)就可操作。緊湊型設(shè)計(jì),分辨率為4 nm。

掃描電子顯微鏡可對材料的表面進(jìn)行高倍率觀察及高精度元素分析,在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。 近年來,掃描電鏡觀察表面精細(xì)結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加,而越來越多的用戶希望能在生產(chǎn)線、品保檢驗(yàn)線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此,體積小、操作簡便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機(jī)寬450mm、長640mm,相比SU1510型號體積減小52%,重量減輕45%,功耗減小50%,且配備標(biāo)準(zhǔn)化的電源接口。主機(jī)與供電單元可分離,安裝非常靈活。

FlexSEM 1000采用**設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高可靠性、高靈敏度的探測器,分辨率高達(dá)4nm。FlexSEM 1000有多種自動化功能,操作簡便,即便是初次操作者也能快速拍出高質(zhì)量圖像。另外,新開發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」可使用各種光學(xué)圖片或電鏡照片進(jìn)行導(dǎo)航,一鍵就快速精準(zhǔn)地切換至感興趣的高倍率視野。

緊湊型VP-SEM FlexSEM 1000

(主機(jī)與供電單元可分離)

特點(diǎn):

a. 通過高靈敏度二次電子探測器,背散射探測器,低真空探測器(UVD*2),實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察

b. 操作簡捷,即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片

c. 新開發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野

d. 大窗口(30 mm2)SDD能譜系統(tǒng),便于快速分析元素成分*2

*1 設(shè)置在桌面時,分離主機(jī)和電源箱

*2 選配

項(xiàng)目內(nèi)容
分解能*34.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式)

15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式)

5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式)

加速電壓0.3 kV ~ 20 kV
放大倍率6× ~ 300,000× (底片倍率)

16× ~ 800,000× (顯示倍率)

低真空模式真空范圍:6 ~ 100 Pa
電子槍預(yù)對中鎢燈絲
樣品臺3-軸自動馬達(dá)臺

X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm

R:360°, T:-15° ~ +90°

**樣品尺寸直徑80 mm
**樣品高度40 mm
尺寸主機(jī):450(W) x 640(D) x 670(H) mm

供電單元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm

探測器選配
  • 高靈敏度低真空二次電子探測器(UVD)

  • 能量分散型X線探測器(EDS)

產(chǎn)品咨詢

日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000

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