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ARM顯微共焦角分辨光譜儀

直接聯(lián)系

上海復享光學股份有限公司

上海

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產(chǎn)品介紹

顯微“變角度”光譜系統(tǒng)

*小 0.5° 角分辨 / 透反射 + 熒光 / 低溫 + 磁場 + 1.7 μm 近紅外

ARM 角分辨光譜儀 采用焦平面 Fourier Transform **技術(shù)，基于顯微平臺，將角分辨光譜的“空間分辨率”提升至 μm 量級，**次實現(xiàn)了角度 (k) + 空間 (x) + 光譜 (ω) 的三重分辨。優(yōu)化的集成設(shè)計，快速在透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜模式間切換。*終為您帶來一款“更全面”的光譜測試平臺。

微區(qū)角分辨光譜系統(tǒng)

典型應用領(lǐng)域：

Nano Photonics 隨著以光子晶體、SPP 材料、超材料為代表的微納光子材料的開發(fā)和應用，單純光譜分析技術(shù)已無法滿足完備表征該類光子材料光學性質(zhì)的需求，更精細化的角分辨光譜技術(shù)應運而生。

微腔光子器件微腔光子器件受構(gòu)型影響，光學性質(zhì)具有角分布特征，需在不同角度下實現(xiàn)光譜探測。

超表面透鏡利用超表面技術(shù)（meta-surface）設(shè)計的超表面透鏡具有強大的光場調(diào)控能力，能夠?qū)崿F(xiàn)亞波長的匯聚和微米級的聚焦，需要一種新型的基于顯微平臺的角分辨光譜探測手段。

ARM 角分辨光譜儀在以上領(lǐng)域的應用得益于如下幾個特點： 1 超過 60° 的角度 ARM 優(yōu)選 Olympus 大 N.A. 平場復消色差物鏡，收集超過 60° 的角向輻射光譜；匹配智能算法，快速實現(xiàn)包括透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜測量模式； 2 達 5 個維度的空間選擇 ARM 內(nèi)置一個**設(shè)計的可調(diào) Aperture，可以實現(xiàn) X / Y 方向開口距離調(diào)節(jié)，XY 兩維平面位置平移，及平面內(nèi) θ 方向旋轉(zhuǎn)，準確抓取復雜形貌的微區(qū)樣品； 3 *小 0.5° 角分辨率 ARM 采用特殊優(yōu)化的消色差、消相差光路，能夠?qū)⒔嵌确直媛侍嵘?0.5°，顯著提升光譜分析能力； 4 1.7μm 近紅外拓展 NEW 新一代**設(shè)計的 ARM 重新對角分辨光路系統(tǒng)進行構(gòu)型，** 在近紅外波段 900~1700nm 實現(xiàn)角分辨光譜測量，對推動光通訊、超表面、激光雷達等領(lǐng)域研究具有重要價值； 5 低溫 + 磁場拓展新一代 ARM 也拓展了對低溫和磁場環(huán)境的支持，可適配*低 2.7K 低溫恒溫器和** 5T 磁場強度超導磁體； 6 除此之外，ARM 還可與外部光源及 Princeton Instruments 光譜儀銜接，實現(xiàn)包括時間分辨、空間相干性、瞬態(tài)光譜采集等功能。