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輕松實現(xiàn)從毫米到納米無縫轉換測量。

兼具激光顯微鏡和探針顯微鏡功能的一體機。

輕松檢測85°尖銳角

采用了有著高N.A. 的專用物鏡和專用光學系統(tǒng)（能**限度發(fā)揮405 nm 激光性能），LEXT OLS4500 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。

LEXT 專用物鏡 有尖銳角的樣品（剃刀）

高度分辨率10nm，輕松測量微小輪廓

由于采用405 nm的短波長激光和更高數(shù)值孔徑的物鏡，OLS4500達到了0.12μm的平面分辨率。因此，可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結合高精度的光柵讀取能力和奧林巴斯獨有的亮度檢測技術，OLS4500可以分辨出亞微米到數(shù)百微米范圍內(nèi)的高度差。此外，激光顯微鏡測量還保證了測量儀器的兩大指標——“正確性”（測量值與真正值的接近程度）和“重復性”（多次測量值的偏差程度）的性能。

0.12μm行間距 高度差標準類型B， PTB-5

從大范圍拼接影像中指定目標區(qū)域

高倍率影像容易使視場范圍變小，而通過設置，OLS4500的拼接功能*多可以拼接625幅影像，從而能夠獲得高分辨率的大范圍視圖數(shù)據(jù)。不僅如此，還可以在該大范圍視圖上進行3D顯示或3D測量。