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秉承X熒光光譜儀20多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，天瑞X熒光元素錄井分析儀EDX5500H再次推動(dòng)了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發(fā)展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的獨(dú)到之處在于：通過(guò)巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來(lái)識(shí)別巖性，再通過(guò)巖性的組合特征分析來(lái)判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。

真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)巖心中的元素具有超低的檢出限，為錄井平臺(tái)提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求；同時(shí)引入了目前先進(jìn)的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線管，使儀器計(jì)數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；

優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；

獨(dú)特的抗震性設(shè)計(jì)，高保護(hù)光路設(shè)計(jì)使得該儀器通過(guò)了第三方權(quán)威機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)及濕熱等使用認(rèn)證；

在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試、在線檢測(cè)以及各類地質(zhì)勘察多元素檢測(cè)中充分發(fā)揮作用。

X熒光元素錄井分析儀主機(jī)標(biāo)準(zhǔn)配置：

上照式光路系統(tǒng)直射模式     FAST-SDD探測(cè)器      數(shù)字多道處理器    美國(guó)進(jìn)口高壓

進(jìn)口牛津鈹窗X射線管       智能測(cè)試軟件    校正模塊內(nèi)置    封閉式定向散熱系統(tǒng)

高阻尼可動(dòng)防震緩沖支腳     定制CCD高清攝像頭

整套設(shè)備包括: Ｘ?zé)晒夥治鲋鳈C(jī)、電腦、打印機(jī)、粉碎機(jī)、壓片機(jī)、真空泵

錄井行業(yè)應(yīng)用案例

l  巖心成份普查：

僅需簡(jiǎn)單前處理，微量多種元素成分盡在掌握。

l  現(xiàn)時(shí)分析

能快速、現(xiàn)場(chǎng)追蹤巖心數(shù)據(jù)，圈定油氣邊界。單個(gè)樣品30多種元素測(cè)試僅需1~4分鐘；

l  現(xiàn)場(chǎng)分析

    獨(dú)特的減震、超小的真空腔、超穩(wěn)固樣品靜態(tài)控制結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使儀器可以應(yīng)對(duì)各種現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境的檢測(cè)任務(wù)；

儀器性能優(yōu)勢(shì)：

儀器外形小巧，簡(jiǎn)潔大方，可用于車載和實(shí)驗(yàn)室，使用方法簡(jiǎn)單，測(cè)試效率高；

測(cè)試時(shí)上照式光路設(shè)計(jì)加上真空測(cè)試腔有效杜絕現(xiàn)場(chǎng)環(huán)中粉塵對(duì)探測(cè)器的污染；

準(zhǔn)直器大化設(shè)計(jì)使樣品受激光斑達(dá)150mm2 保證測(cè)試信號(hào)的豐富性，提高測(cè)試準(zhǔn)確度

封閉式定向風(fēng)冷散熱保證X射線管工作溫度穩(wěn)定，延長(zhǎng)X射線管壽命；

分析樣品速度快，快可達(dá)60S，并且可同時(shí)分析40種元素；

高阻尼可動(dòng)支腳防震設(shè)計(jì)加上超穩(wěn)真空控樣設(shè)計(jì)保證了每一個(gè)樣品與光管、探測(cè)器幾何關(guān)系時(shí)刻相一致，屏蔽現(xiàn)場(chǎng)震動(dòng)所造成的影響；

大面積厚晶體FAST-SDD探測(cè)器，配上Rh靶X光管以及良好的散熱性，有力地確保測(cè)試穩(wěn)定；

X射線屏蔽設(shè)計(jì)和高分子材料及安全聯(lián)動(dòng)裝置有效保證無(wú)輻射外漏，讓測(cè)試人員安全放心使用