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NenoVision原位原子力顯微鏡LiteScope

直接聯(lián)系

上海納騰儀器有限公司

捷克

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報價:

面議

關(guān)注度:

1206

產(chǎn)品介紹

一、產(chǎn)品簡介

LiteScope™是為不同品牌的掃描電子顯微鏡(SEM)設(shè)計的“即插即用”的掃描探針顯微鏡。根據(jù)客戶需求,定制并提供適當(dāng)?shù)倪m配器和反饋機(jī)制,很容易通過四個螺絲將LiteScope™固定在電子顯微鏡的樣品臺上,通過線纜與控制器、電腦進(jìn)行連接。 LiteScope™通過可更換探針進(jìn)行多種掃描探針顯微鏡(SPM)成像模式。 綜合分析包括:面形貌表征、機(jī)械性能、電性能、磁性能。

二、 功能

  • 主要功能

LiteScope™提供并支持各種SPM測量方法和各種探針,其設(shè)計基礎(chǔ)和*有價值的技術(shù)特征是通過不同的探針夾,使用不同的探針以達(dá)到測試要求。其主要測試功能:原子力顯微鏡(AFM)、靜電力顯微鏡(EFM)、局部電壓/電流測量、力調(diào)制模式(FMM)、開爾文探針力模式(KPFM)、磁力顯微鏡(MFM)、掃描隧道顯微鏡(STM)、納米壓痕。

  • 技術(shù)特點(diǎn)

LiteScope™采用關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)(CPEM),該技術(shù)利用兩種不同的技術(shù)對同一物體城鄉(xiāng)的方法。CPEM能夠同時對樣品表面的同一個區(qū)域進(jìn)行SEM和AFM表征。

LiteScope™通常用于高真空環(huán)境,但也可根據(jù)要求適用于超高真空環(huán)境。

工作溫度:+15°C至+25°C

標(biāo)準(zhǔn)工作壓力:10-5Pa~105Pa

外形尺寸:129 mm x 90 mm x 45-55 mm

**掃描面積:22 mm x 11 mm x 8 mm

掃描范圍:100 um x 100 um x 100 um

分辨率:0.2nm

  • 技術(shù)能力

優(yōu)勢

獨(dú)特的關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)(CPEM)

綜合表面表征-形貌、粗糙度、磁性、導(dǎo)電性、電性能

在樣品表面對針尖進(jìn)行精確導(dǎo)航定位

5分鐘內(nèi)輕松集成和安裝/拆卸

即插即用

與FIB、GIS、EDX等附件兼容

無需光學(xué)探測、無需激光調(diào)節(jié)的自感應(yīng)探頭

商用探針,多種測量模式

可根據(jù)客戶要求定制探針適配于合適的探針夾

測量頭可縮回LiteScope™的主體,以節(jié)省樣品周圍的空間。

傾斜操作(傾斜0°–60°),*小WD=5 mm

軟件友好,無需特殊安裝

遠(yuǎn)程訪問結(jié)果和測量設(shè)置

三、應(yīng)用

  • 生物傳感用石墨烯包裹金納米粒子雜化結(jié)構(gòu)的SEM/AFM表征

金納米粒子與石墨烯掩膜的結(jié)合是一種新的制備適用于表面增強(qiáng)拉曼光譜(SER)的活性基底的方法。石墨烯可以作為針孔鈍化層,防止等離子體納米結(jié)構(gòu)氧化。金粒子與石墨烯的接觸程度對SERS的靈敏度有重要影響。因此,了解石墨烯膜對單個納米顆?;虼祟惣{米顆粒簇的遮蓋方式非常重要。可使用CPEM輕松確定納米顆粒在石墨烯膜下的分布以及表面形貌。雖然LiteScope™SPM(AFM)可以對納米顆粒上的石墨烯層進(jìn)行表面成像,但SEM可以對石墨烯層下的納米顆粒進(jìn)行成像。

  • HFO2顆粒的W-Cr固溶體退火后的降解

在1000°C下退火10小時后W-10Cr-1HF(含HFO2顆粒的固溶W-Cr)的分解??紫缎纬捎诙趸x顆粒周圍,同時也形成富鉻部分(深色片晶或點(diǎn))和富W部分(片晶之間的亮區(qū))。利用CPEM可以快速、準(zhǔn)確地識別掃描電鏡圖像中的形貌和材料對比度,很容易區(qū)分HF顆粒與孔隙。用CPEM技術(shù)研究了樣品表面的腐蝕速率。

  • 膠原支架上間充質(zhì)干細(xì)胞的研究

    采用冷凍干燥法制備膠原支架(Ceitec-but,RG 2.3)。然后,用間充質(zhì)干細(xì)胞接種支架,在標(biāo)準(zhǔn)培養(yǎng)條件下培養(yǎng)6天(馬薩里克大學(xué)組織胚胎學(xué)系)。*后,用四氧化鋨和醋酸鈾酰對支架進(jìn)行染色,以獲得更好的視覺效果。由于獨(dú)特的LiteScope™及其通過掃描電鏡精確的AFM尖端導(dǎo)航,在不損壞支架孔中探針的情況下,才有可能對制備的細(xì)胞進(jìn)行測量。利用CPEM,可以同時用電子束和探針掃描同一個細(xì)胞并獲得圖像,以及細(xì)胞與基質(zhì)的相互作用,這意味著細(xì)胞在支架后的擴(kuò)展更大——更好的粘附力和更友好的環(huán)境。

  • 其他應(yīng)用

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NenoVision原位原子力顯微鏡LiteScope

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