美國EDAX能譜儀
美國EDAX跨國集團是世界上*早生產(chǎn)能譜儀的廠家，隸屬AMETEK集團公司材料分析部。自1962年成立以來就一直是國際上**的X-射線譜儀和電子背散射衍射/取向成像微觀分析系統(tǒng)的制造廠家，致力于發(fā)展先進的材料成分與結(jié)構(gòu)儀分析技術(shù)和產(chǎn)品。
TEAM™ EDS X-射線顯微分析系統(tǒng)是一個智能化交互式的能譜分析系統(tǒng)。將能譜分析理論與專家的實踐經(jīng)驗相結(jié)合，自動地設(shè)置**工作條件或提出建議、警告，實現(xiàn)了以能譜專家的知識和經(jīng)驗運行，徹底改變做能譜的工作方式。EDAX能譜儀與市場上Joel、FEI、日本精工、日立等所有電鏡都可以匹配。
儀器簡介：
能譜儀(EDS，Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區(qū)成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。EDS可以與EPMA，SEM，TEM等組合，其中SEM－EDS組合是應(yīng)用*廣的顯微分析儀器，EDS的發(fā)展，幾乎成為SEM的標配。是微區(qū)成份分析的主要手段之一。
技術(shù)參數(shù)：
Genesis Apollo X / XL(Standard SDD)
1. 探測器：
a.有效晶體面積：10mm2，30mm2
b.FET配置：集成于SDD芯片內(nèi)
c.分辨率：優(yōu)于127eV，分辨率測試條件：100，000CPS
d.技術(shù)特點：可工作于更短的時間常數(shù)(AmpTime)或更高的計數(shù)率而分辨率不下降
適應(yīng)對象：幾乎所有SEM，鎢燈絲或場發(fā)射。性能良好，可以滿足所有常規(guī)分析需要，性價比高。
2. 數(shù)字脈沖處理電子學 ：這是能譜采集與數(shù)字化處理的核心，Genesis Apex采用專門為SDD能譜探測器設(shè)計的DPP III數(shù)字脈沖處理系統(tǒng)，可處理的**輸入計數(shù)率從500，000CPS提高到> 1，000，000CPS，輸出計數(shù)率從100，000CPS提高到350，000CPS。
主要特點：
1. **設(shè)計的探頭，能保證輕元素端有更好的分辨率。
2. 設(shè)計的DPP III數(shù)字脈沖處理系統(tǒng)，可處理的**輸入計數(shù)率從500，000CPS提高到> 1，000，000CPS，輸出計數(shù)率從100，000CPS提高到350，000CPS。
3． 增強的Genesis 6 分析軟件：保留Genesis原來的特點，如HPD可見峰剝離、SEC因子提高輕元素的定量分析精度、全譜面分布和元素偵探器(Element Detective)、ViP低真空分析校正等外，新增強的功能包括：
EXpert ID——元素識別的一個創(chuàng)新性的新標準，她克服了傳統(tǒng)的“基于規(guī)則”的峰識別技術(shù)準確識別重疊峰或弱小能譜峰的困難，運用了譜線之間物理關(guān)聯(lián)的高級理念，同時結(jié)合傳統(tǒng)的規(guī)則邏輯算法，就象一個物理專家一樣幫助您進行復雜的峰識別，從而確保Peak ID的準確性。
SnapShot: 按照用戶自定義的時間間隔自動采集能譜來研究電子束與試樣的相互作用；
自動時間常數(shù)Auto：根據(jù)實驗條件自動選取*價時間常數(shù).
