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裂紋擴(kuò)展速率測(cè)試儀

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香港環(huán)球分析測(cè)試儀器有限公司北京辦事處

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產(chǎn)品介紹

儀器簡(jiǎn)介：

裂紋擴(kuò)展速率測(cè)試儀 Crack growth rate system

DC PD 儀器用于測(cè)量在高溫環(huán)境下有效的和高重復(fù)性的開裂增長(zhǎng)速率，從而提供機(jī)械斷裂的數(shù)據(jù)。系統(tǒng)在保持恒電流的情況下，測(cè)試試樣上的電壓降。

主要技術(shù)參數(shù)：電流范圍： 0 – 20 A 電壓精度：±(50 ppm of reading + 1.23V) 電壓分辨率： 100 nV 典型的 da 分辨率： (BWR) = 5 微米典型的da/dt分辨率 (BWR) = 2x10-12 m/s

主要特點(diǎn)：

Cormet的 DC PD 裂紋增長(zhǎng)速率測(cè)試系統(tǒng)有兩個(gè)工作模式：

直流壓降法和反向直流壓降法。其目的就是為了消除測(cè)試過(guò)程中的偏差。

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裂紋擴(kuò)展速率測(cè)試儀

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