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全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)S4 TStar

直接聯(lián)系

鉑悅儀器(上海)有限公司

德國

產品規(guī)格型號
參考報價:

面議

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727

產品介紹

S4 TStar — TXRF的明星 數(shù)十年來,X 射線熒光(XRF)光譜法在多個行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析,檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴展了XRF 的應用范圍,可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此,TXRF 成為原子吸收光譜法(AAS)以及電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)或質譜法(ICP-MS)的理想的替代性方法?,F(xiàn)在,S4 TStar 在臺式TXRF 光譜儀的性能、自控和質量方面開創(chuàng)了新的標準。

優(yōu)異的樣品通用性S4 TStar 是一種通用性很強的工具,可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。它的樣品通用性優(yōu)于ICP。

ICP 只能分析完全溶解的液體樣品。

圖一:30 毫米石英片:對液體、固體和懸浮液進行元素分析

圖二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科學研究

圖三:顯微鏡載玻片:臨床和生物學樣品,直接分析細胞培養(yǎng)物、涂片和切片

圖四:矩形載體:尺寸小于54 毫米,用于膜片、濾片、納米顆粒層

定制的反射介質

行業(yè)應用:

· 藥品

檢測活性藥物成分中的催化元素:液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm

· 食品

糧農組織和世衛(wèi)組織的食品*標準:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。

· 環(huán)境監(jiān)測

環(huán)境監(jiān)測:地表水,廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

產品咨詢

全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)S4 TStar

鉑悅儀器(上海)有限公司

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