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面議
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S1 TITAN 手持式XRF光譜儀
快速分析速度和出色的準(zhǔn)確性是S1 TITAN手持式XRF光譜儀的兩個(gè)關(guān)鍵特點(diǎn)。
其他創(chuàng)新特色包括集成觸摸屏彩色顯示屏,50 kV X射線光管,SMART GradeTM計(jì)時(shí)器,SharpBeamTM優(yōu)化X射線光路,硅漂移探測器(SDD)以及極其堅(jiān)固和密封性能很好的外殼,可防止潮濕和灰塵的污染。
S1 TITAN系列有四(4)種配置:型號(hào) 800,600,500 和300.所有型號(hào)均采用Bruker的SharpBeam TM技術(shù)。S1 TITAN 800和600使用大面積CUBE(TM)SDD探測器,為您提供極快的分析速度。S1 TITAN 500配置了快速,準(zhǔn)確且經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的標(biāo)準(zhǔn)SDD探測器。S1 TITAN 300配置有經(jīng)濟(jì)的Si-PIN探測器。此外,S1 TITAN可配置分析各種樣品的校準(zhǔn)曲線 - 包括各種合金,礦石和環(huán)境樣品以及限制材料。
S1 TITAN手持式XRF光譜儀獲得SharpBeamTM技術(shù)優(yōu)化了探測器和光管的幾何結(jié)構(gòu)。優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu)提供了許多好的效果,包括:
降低功率需求
減輕重量
提高測量精度
提高檢出限
延長電池壽命
S1 TITAN手持式XRF光譜儀現(xiàn)在可以選配集成攝像頭和/或小光斑準(zhǔn)直器。
得益于S1 TITAN的SharpBeam TM優(yōu)化幾何結(jié)構(gòu),測量的精度和準(zhǔn)確度與正常光斑相同 – 即無需延長測量時(shí)間即可達(dá)到所需的精度。攝像頭選配適用于S1 TITAN 800和600. 所有型號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)光斑尺寸是5mm,但S1 TITAN 800可選配8mm或3mm光斑。
可用的校準(zhǔn)包括:合金,黃金和貴金屬,塊體材料(電子廢料和催化轉(zhuǎn)化器),土壤,礦石,受限材料和客戶特殊的材料
**的大面積SDD探測器技術(shù)
**的計(jì)數(shù)率和分辨率(與上一代SiPIN儀器相比)
比前幾代更快
檢出限更低
輕松分析鎂,鋁和硅等輕元素,無需真空或氦氣(限S1 TITAN 800和600)
Revontium
N80
VANTA
ScopeX PILOT
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M