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一、主要特點(diǎn)

(1)、可對(duì)C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)進(jìn)行無損定性、定量分析；

(2)、采用**WAG(Wide Angle Geometry)技術(shù)，配備8個(gè)二次靶；

(3)、8款管濾光片，更快更精確的測(cè)定微量及痕量元素；

(4)、標(biāo)準(zhǔn)配置硅漂移探測(cè)器SDD，適于高和低原子序數(shù)的元素分析檢測(cè)；

(5)、針對(duì)輕原子序數(shù)元素，可配備分辨率達(dá)123eV的SDD LE探測(cè)器；

(6)、外型堅(jiān)固耐用，適于移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室，符合沖擊試驗(yàn)MIL810E規(guī)格；

(7)、檢測(cè)光斑可變，適于不同尺寸和形狀的樣品檢測(cè)；

(8)、配備集成電腦、專業(yè)nEXt™分析軟件，操作方便；

二、二次靶激發(fā)技術(shù)介紹

二次靶激發(fā)技術(shù)能**程度的去除散射背景，提高信噪比，降低檢測(cè)器的檢測(cè)限。如圖，樣品為含少量Cr，Mn，Fe雜質(zhì)的Ni合金。當(dāng)直接激發(fā)時(shí)(綠)，雜質(zhì)元素的吸收信號(hào)被Ni元素的吸收信號(hào)淹沒；相反，使用Ni二次靶激發(fā)時(shí)，雜質(zhì)元素的吸收信號(hào)被大大加強(qiáng)。

三、主要技術(shù)參數(shù)