粉體行業(yè)在線展覽
面議
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Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度,打破了1納米的檢測限瓶頸。
專為滿足實驗室和制造環(huán)境中**挑戰(zhàn)性的分析需求而設(shè)計,ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可**程度提高各種元素分析應(yīng)用的分析量。
能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術(shù)可通過簡易的樣品制備,實現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析,所分析樣品范圍廣泛,可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。
先進的技術(shù)
Revontium
N80
VANTA
ScopeX PILOT
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M