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HORIBA X射線(xiàn)分析顯微鏡

直接聯(lián)系

天津東方科捷科技有限公司

日本

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
參考報(bào)價(jià):

面議

關(guān)注度:

920

產(chǎn)品介紹

概要

**一代的X射線(xiàn)熒光分析顯微鏡XGT-7000開(kāi)創(chuàng)了科學(xué)分析的新時(shí)代。它將光學(xué)圖像與元素分析**地結(jié)合,為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。

SDD檢測(cè)器保證了高速、高精度元素面掃描;高能量分辨率,高計(jì)數(shù)率的測(cè)量,且無(wú)需液氮。

雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶(hù)可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換(大氣或真空)。即使測(cè)量含水樣品、生物樣品時(shí)也可以保證測(cè)量所有元素的高靈敏度。

獨(dú)特的硬件設(shè)計(jì)確保了XGT-7000操作的靈活性和廣泛的應(yīng)用范圍。通過(guò)軟件控制x射線(xiàn)導(dǎo)管在10 μm和1.2 mm間切換,以保證獲得**測(cè)量條件,無(wú)論是微觀(guān)到宏觀(guān)。

與x射線(xiàn)導(dǎo)管同軸的CCD相機(jī),可以迅速、精確地定位感興趣區(qū)域。

·單點(diǎn)及多點(diǎn)自動(dòng)分析

單點(diǎn)和自動(dòng)多點(diǎn)分析功能使得無(wú)論是從單個(gè)分析位置或是用戶(hù)定義的一系列位置上均可以獲得高質(zhì)量的譜圖。可自動(dòng)標(biāo)注元素譜峰。使用基本參數(shù)法或單標(biāo)樣基本參數(shù)法或是標(biāo)準(zhǔn)樣品校正曲線(xiàn)法定量計(jì)算,*低可測(cè)量ppm級(jí)的含量。膜厚分析軟件可以分析nm級(jí)或μm級(jí)樣品的多層膜厚。

·高光譜面掃描

SmartMap軟件在每個(gè)像素點(diǎn)采集元素譜圖。采集結(jié)束后,用戶(hù)可以根據(jù)自己的分析,添加或刪除某個(gè)元素面分布圖,實(shí)現(xiàn)已有數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)脫機(jī)分析。

X射線(xiàn)透射圖像有利于用戶(hù)觀(guān)察樣品內(nèi)部構(gòu)造,實(shí)現(xiàn)真正的無(wú)損內(nèi)部觀(guān)測(cè)。

特征

有著諸多創(chuàng)新的XGT-7200在眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用:電子電器、發(fā)動(dòng)機(jī)磨損分析、法醫(yī)科學(xué)、地質(zhì)礦物、醫(yī)藥、博物館、冶金、生物等。XGT-7200的靈活設(shè)計(jì),保證用戶(hù)通過(guò)簡(jiǎn)易的操作即可獲得高質(zhì)量的分析結(jié)果,無(wú)論是分析大區(qū)域,還是對(duì)微區(qū)細(xì)節(jié)分析,或是同時(shí)采集X射線(xiàn)熒光圖像和X射線(xiàn)透過(guò)像。

***的空間分辨率

HORIBA獨(dú)特的X射線(xiàn)光管技術(shù)提供高空間分辨率微區(qū)XRF分析,X射線(xiàn)光斑直徑小到10微米。這種**強(qiáng)度的超細(xì)光斑,可進(jìn)行快速無(wú)損的微細(xì)結(jié)構(gòu)分析。

*X射線(xiàn)透過(guò)像

同時(shí)采集XRF圖像和X射線(xiàn)透過(guò)像的功能,可以用來(lái)分析無(wú)法用肉眼觀(guān)察到的樣品內(nèi)部構(gòu)造和元素組成。采用超細(xì)垂直的X射線(xiàn)束,即使觀(guān)察不平坦樣品也可以獲得清晰的內(nèi)部圖像。

*雙真空模式

****的雙真空模式設(shè)計(jì)- 彼此間的切換在數(shù)秒內(nèi)即可完成。

全真空模式,整個(gè)樣品室處于真空氛圍以保證輕元素分析的高靈敏度。

局部真空模式,樣品處于大氣氛圍中,適宜于含水樣品的分析,如生物組織、文物碎片和館藏文物等。

*完整地分析整個(gè)樣品

*整合數(shù)據(jù)采集和分析的操作軟件

界面友好的操作軟件允許用戶(hù)方便的控制硬件、選擇測(cè)量區(qū)域和全數(shù)據(jù)分析。功能包括:自動(dòng)標(biāo)定譜峰、定性定量測(cè)量、RGB圖像合成,線(xiàn)分析等。大尺寸的樣品室使得分析整個(gè)樣品成為可能,用10微米束斑可以分析微小區(qū)域甚至到測(cè)量大至10cm x 10cm的區(qū)域。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量元素:

Na~U

X射線(xiàn)管:

銠(Rh)靶 /管電壓 50 kV / 管電流 1 mA

X射線(xiàn)熒光檢測(cè)器:

SDD硅漂移檢測(cè)器

透過(guò)X射線(xiàn)檢測(cè)器:

NaI(Ti)晶體

X射線(xiàn)導(dǎo)管:

單毛細(xì)管 10μm / 100μm 無(wú)濾光片

光學(xué)圖像:

樣品整體光學(xué)像及共軸放大圖像

樣品臺(tái)尺寸:

XY:100mm×100mm

樣品倉(cāng):

全真空模式/ **真空 300mm×300mm×80mm

信號(hào)處理:

數(shù)值脈沖處理器(INCA處理器 )

定性分析:

自動(dòng)定義譜峰/ KLM線(xiàn)標(biāo)注/ 譜峰查找/ 譜峰匹配

定量分析:

無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)文件匹配基本參數(shù)法/ 校正曲線(xiàn)/ 多層膜基本參數(shù)法/ 多點(diǎn)分析(*多5000)/ 多點(diǎn)結(jié)果輸出至Excel®

面掃描功能:

透過(guò)X射線(xiàn)像/ 元素面分布圖/ 譜圖面掃描 /矩形面掃描/ 生成譜圖/ RGB合成/ 標(biāo)尺/ 線(xiàn)分析

其它功能:

可同時(shí)開(kāi)啟XGT-5200操作軟件

產(chǎn)品咨詢(xún)

HORIBA X射線(xiàn)分析顯微鏡

天津東方科捷科技有限公司

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