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>美國TSI掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS-3938)

美國TSI掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS-3938)

直接聯(lián)系

提賽環(huán)科儀器貿(mào)易(北京)有限公司

美國

產(chǎn)品規(guī)格型號
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面議

關(guān)注度:

548

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品詳情

TSI 的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所( NIST )使用一個(gè) TSI DMA 尺寸為 60 nm100 nm 的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個(gè)精確地粒徑檢測技術(shù),沒有假設(shè)顆粒的形狀粒度分布而直接測量數(shù)濃度。該方法是獨(dú)立的顆?;蛄黧w的折射率,并具有高度的**尺寸精度和測量重復(fù)性。 TSI 模型 3938 是粒徑譜儀的第三代;可信的研究人員超過 30 年。

特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

高分辨率數(shù)據(jù):多達(dá) 167 個(gè)通道

廣泛的尺寸范圍:從 2.5 nm1000 nm

ISO 15900:2009 兼容

快速測量:< 10 秒掃描

寬的濃度范圍內(nèi), 107 particles/cm3

**的靈活性組件的設(shè)計(jì)

無需電腦的操作, 觸摸屏控制

易于安裝與不安裝工具和自動(dòng)發(fā)現(xiàn)部件

離散粒子測量:適用于多模樣本

獨(dú)立的顆粒和流體的光學(xué)性質(zhì)

寬范圍的系統(tǒng)的選擇:水或丁醇計(jì)數(shù)器供選擇;傳統(tǒng)的或非放射性中和器的選擇

應(yīng)用

納米技術(shù)研究和材料的合成

大氣研究和環(huán)境監(jiān)測

燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排氣的研究

室內(nèi)空氣質(zhì)量的測量

/ 冷凝的研究

吸入毒理學(xué)研究

內(nèi)容包括

靜電分類器與您選擇的 DMA

可兼容六種 CPC

氣溶膠儀器 ® 軟件經(jīng)理

數(shù)據(jù)采集計(jì)算機(jī)必須單獨(dú)購買。

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美國TSI掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS-3938)

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