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掃描電遷移率粒徑譜儀

直接聯(lián)系

GRIMM 氣溶膠科技公司

德國

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454

產(chǎn)品介紹

掃描電遷移率粒徑譜儀

SMPS+CSMPS+E雙系統(tǒng)

GRIMM SMPS+C系統(tǒng)采用傳統(tǒng)的差分電遷移率粒徑分級器DMA和凝聚核粒子計數(shù)器CPC技術(shù)結(jié)合,兩種不同型號的DMA可以同時檢測5—350納米或10—1100納米的氣溶膠的粒徑分布。根據(jù)應(yīng)用不同,可以選配移動式:CPC 5403,實驗室固定式:CPC 5416 19英寸標準機柜式:CPC 5421。系統(tǒng)每次開機時,自動自檢以確保系統(tǒng)準確性,自檢內(nèi)容包括泄露測試、DMA 型號確認、 DMA 電壓測試、CPC 狀態(tài)檢查等。自檢通過后,軟件自動控制采樣、測量和數(shù)據(jù)記錄。

測量參數(shù) SMPS+C

1.檢測粒徑范圍:5-350 納米(M-DMA);

10-1100 納米(L-DMA)

2.檢測濃度范圍: 0--108 /cm3

3.粒徑通道:*多255通道

4.CPC D50粒徑: 4 納米

5.CPC 響應(yīng)時間: 4

GRIMM SMPS+E系統(tǒng)采用差分電遷移率粒徑分級器DMA和法拉第靜電計FCE技術(shù)結(jié)合,配合3種不同的DMA,粒徑檢測下限可以低至1納米,檢測數(shù)量濃度高達109/cm3。

產(chǎn)品咨詢

掃描電遷移率粒徑譜儀

GRIMM 氣溶膠科技公司

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掃描電遷移率粒徑譜儀 - 454
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