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面議
492
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平面平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
平面平晶的技術(shù)參數(shù)
平面直徑d(mm) 平面平晶基本參數(shù)
1級(jí) 價(jià)格 2級(jí)
d范圍內(nèi) 2/3d范圍內(nèi) d范圍內(nèi) 2/3d范圍內(nèi)
30 0.03 ---- 275 0.1 0.05
45 325
60 375
80 0.05 0.03 575
100 1125
150 5000
200 0.08 0.05 9200 0.12 0.06
250 0.1 0.05 18400 0.15 0.08
300 0.15 0.09 55000 0.2 0.1
電腦組合體系VG42
重量選別稱
UNI800C多物料配料控制儀
配料計(jì)量系統(tǒng)
數(shù)字式密度計(jì)DS7000系列
在線HPXRF檢測(cè)設(shè)備
片式電容四參數(shù)測(cè)試機(jī)
0~10%糖度
三路浮子流量計(jì) MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測(cè)儀
GJT-2F系列金屬探測(cè)儀
YB-JZX小量程自動(dòng)檢重秤