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OmniScan MX ECA

用于進(jìn)行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個(gè)傳感器線圈（使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個(gè)線圈），其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz，帶有一個(gè)可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項(xiàng)。

渦流陣列技術(shù)

渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。

OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè)）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢

同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢：

• 檢測時(shí)間大幅度降低。

• 單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。

• 減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。

• 提供檢測區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。

• 極好地適用于對那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測。

• 改進(jìn)了檢測的可靠性和檢出率（POD）。

渦流陣列探頭

Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

• C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測缺陷。

• 分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號(hào)。

• 波幅、相位和位置測量。

• 可調(diào)彩色調(diào)色板。

• 大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應(yīng)。

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