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理學(xué)高分辨納米CT

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北京嘉德利達(dá)科技有限公司

日本

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產(chǎn)品介紹

日本理學(xué)Rigaku nano3DX是一款真正的X射線顯微鏡(XRM),能夠以高分辨率測量相對較大樣品的3D計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)圖像,這是通過使用高功率旋轉(zhuǎn)陽極X射線源和高分辨率探測器來實(shí)現(xiàn)的。

nano3DX允許通過改變X射線波長來增強(qiáng)對比度或穿透力,拓展了可檢測樣品的類型,包括那些具有低吸收對比度的樣品(例如CFRP)、或更密集的材料(如陶瓷復(fù)合材料),因此,nano3DX擴(kuò)展了無損成像的范圍,使研究中至關(guān)重要的靈活性和洞察力有了重大突破。

nano3DX特征

◆ 高功率旋轉(zhuǎn)陽極X射線源

◆ 多種靶材可供選擇(Cr,Cu和Mo),可得到不同波長的特征X射線,以優(yōu)化不同樣品基質(zhì)的成像

◆ 光學(xué)耦合高分辨率探測系統(tǒng),多種物鏡可供選擇

◆ 快速數(shù)據(jù)采集,源自于高亮度的X射線源和高分辨率探測系統(tǒng),速度比同類產(chǎn)品快3倍以上

◆ 低Z材料的高對比度,實(shí)現(xiàn)了優(yōu)于0.13g/cm3的密度分辨率

◆ 支持原位實(shí)驗(yàn)

◆ 高分辨率:空間分辨率優(yōu)于400nm(特殊定制可達(dá)100nm)

◆ 寬視野:采用相同分辨率和掃描時間,FOV比同類系統(tǒng)大5倍以上

nano3DX典型應(yīng)用

日本理學(xué)nano3DX適用于逆向工程、產(chǎn)品研究、失效分析、高可靠篩選、質(zhì)量評價、改進(jìn)工藝等無損檢測和評估工作。常用于各類材料(如合成材料、陶瓷復(fù)合材料等)、電子半導(dǎo)體元器件、地礦標(biāo)本、仿生材料、生化物質(zhì)等的計(jì)算機(jī)斷層掃描成像,現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域:

◆ 材料學(xué):結(jié)構(gòu)材料、復(fù)合材料的微觀特性分析,探討/解析樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)

l金屬材料、合金/鑄造:航空航天, 精密制造, 半導(dǎo)體零部件

l復(fù)合材料

l高分子材料/聚合物:纖維材料, 發(fā)泡材料, 橡膠, 樹脂, 高分子聚合物

◆ 工程材料:建筑材料內(nèi)部孔隙度、連通度和滲透性分析

◆ 儲能設(shè)備:質(zhì)量控制、新產(chǎn)品開發(fā)的結(jié)構(gòu)試驗(yàn)、失效分析等

◆ 農(nóng)牧業(yè):動植物組織,木材和農(nóng)產(chǎn)品(如種子)的質(zhì)檢和分析

◆ 古生物學(xué)和考古學(xué):種系鑒定、化石的結(jié)構(gòu)分析,文物保護(hù)和修復(fù)

◆ 地質(zhì):礦物勘察、地質(zhì)分布、油氣藏開發(fā)等

◆ 半導(dǎo)體:元器件的結(jié)構(gòu)分析

應(yīng)用案例:

CFRP材料曾被認(rèn)為很難通過X射線成像分析。由于nano3DX具有0.13g/cm3的密度分辨率,可以清晰的區(qū)分CFRP中碳纖維、環(huán)氧樹脂和材料孔隙的顯微結(jié)構(gòu),以三維形式觀察,并可測量空隙數(shù)量、體積和方向。

碳纖維增強(qiáng)聚合物(CFRP)。圖像為1.8mm×1.8mm×1.4mm,體積由3300× 3300×2500體素表示。在相同的分辨率、時間范圍內(nèi),單次掃描的測量體積比其他系統(tǒng)大25倍。

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