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薄膜介質(zhì)損耗測試儀

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北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司

北京

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報價:

面議

關(guān)注度:

357

產(chǎn)品介紹

一、概述:

薄膜介質(zhì)損耗測試儀測試頻率上限達到目前國內(nèi)0高的160MHz。

雙掃描技術(shù):測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

雙測試要素輸入:測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧:數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

自動化測量技術(shù):對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示:數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS數(shù)字直接合成的信號源:確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計算機自動修正技術(shù)和測試回路0優(yōu)化:使測試回路,殘余電感減至0低,徹底根除 Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀又稱介電常數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗測試儀、介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗角正切測試儀、高頻/工頻介電常數(shù)測試儀。作為0新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。

二、主要技術(shù)特性:

薄膜介質(zhì)損耗測試儀Q 值測量范圍:2 1023,量程分檔:30、1003001000,自動換檔或手動換檔

固有誤差:5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz 10MHz 6% ± 滿度值的2%(10MHz160MHz

工作誤差:7 %±滿度值的 2 %( 200kHz 10MHz ,8% ± 滿度值的2%(10MHz160MHz

電感測量范圍: 4.5nH 140mH

電容直接測量范圍: 1 200pF

主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 220pF

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1

信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz 160MHz

頻率分段(虛擬): 100 999.999kHz, 1 9.99999MHz,10 99.9999MHz,100 160MHz

頻率指示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個字

三、夾具工作特性

1、平板電容器:

極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm可選

極片間距可調(diào)范圍:15mm

2、夾具插頭間距:25mm±0.01mm

3、夾具損耗正切值:≤4×104 1MHz

4、測微桿分辨率:0.001mm

四、薄膜介質(zhì)損耗測試儀配置:

序號

配置

單價(萬元)

數(shù)量/單位

廠家

1

Q表

1.8萬-2.8萬

1臺

智德創(chuàng)新

2

夾具

1臺

智德創(chuàng)新

3

電感

九只

智德創(chuàng)新

4

測試線

3根

智德創(chuàng)新

5

隨機文件

1套

智德創(chuàng)新

6

液體電極

1套

智德創(chuàng)新

產(chǎn)品咨詢

薄膜介質(zhì)損耗測試儀

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