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美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀

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上海胤煌科技有限公司

美國

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773

產(chǎn)品介紹

美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀

產(chǎn)品介紹:

美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀,可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。

此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。

典型應(yīng)用:

綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。

主要特點:

1)能分析多種分散物的混合體;

2)無需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點;

3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

5)可精確測量無水體系;

6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進行電位測量;

7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;

8)具有自動電位滴定功能;

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)被測樣品無需稀釋;

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)不需定標(biāo);

4)能分析多種分散物的混合體;

5)高精度;

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需定標(biāo);

2)能測更寬的粒徑范圍;

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

6)可適用于無水體系;

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%;

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)高精度(±0.1mv);

4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

5)electrosmotic flow不影響測量;

6)對流(convection)不影響測量;

7)可精確測量無水體系;

技術(shù)參數(shù):

1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;

2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;

3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));

6)樣品體積:30-230ml;

7)PH范圍:0~14;

8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m

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美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀

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美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀 - 773
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