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產(chǎn)品簡介

新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與先進(jìn)的檢測儀器功能相結(jié)合，提供**的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量，利用國際標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度，無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為全球造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。

技術(shù)特點

· 檢測范圍：0.1 到300 μm

· 全顆粒度測試，無需建模

· 選配的MasterTech 052自動進(jìn)樣器提供多至18個樣品的自動進(jìn)樣，無需人為介入

產(chǎn)品應(yīng)用

適合于各種無機材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物，例如：高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析，是高嶺土，重鈣，輕鈣粒徑的標(biāo)準(zhǔn)分析儀器。