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反射高能電子衍射儀（Reflection

High-Energy Electron Diffraction）是觀察晶體生長*重要的實時

監(jiān)測工具。它可以通過非常小的掠射角將能量為10～30KeV的單能電子掠射到晶體表面，通過衍射斑

點獲得薄膜厚度，組分以及晶體生長機制等重要信息。因此反射高能電子衍射儀已成為MBE系統(tǒng)中

監(jiān)測薄膜表面形貌的一種標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)。

　　R-DEC公司生產(chǎn)的反射式高能電子衍射儀，以便于操作者使用的人性化設(shè)計，穩(wěn)定性和耐久性以

及擁有高亮度的衍射斑點等特長得到日本國內(nèi)及海外各研究機構(gòu)的一致好評和認可。

用于有機薄膜晶體結(jié)構(gòu)檢測。世界首創(chuàng)！歡迎來電詢問詳細技術(shù)資料！