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Zeta-APS高濃度納米粒度儀及Zeta電位分析儀

儀器簡介：

Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀，可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。

此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。 

結(jié)構(gòu)設(shè)計緊揍，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配)自動摘定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到**分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進(jìn)行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。

典型應(yīng)用：

綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學(xué)機(jī)械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。 

主要特點：

1)能分析多種分散物的混合體； 

2)無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點； 

3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系； 

4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

5)可精確測量無水體系； 

6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量；

7)樣品的**濃度可達(dá)60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量； 

8)具有自動電位滴定功能；

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)被測樣品無需稀釋； 

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾； 

3)不需定標(biāo)；

4)能分析多種分散物的混合體；

5)高精度；

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無需定標(biāo)；

2)能測更寬的粒徑范圍； 

3)無需依賴Double Layer模式 

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲； 

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑； 

6)可適用于無水體系； 

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無需稀釋，固合量高達(dá)60%； 

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾； 

3)高精度(±0.1mv)； 

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)； 

5)electrosmotic flow不影響測量； 

6)對流(convection)不影響測量； 

7)可精確測量無水體系；

技術(shù)參數(shù)：

1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；

2)可測量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減；

3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑； 

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))； 

6)樣品體積：30-230ml； 

7)PH范圍：0~14;

8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m