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Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀

Omni

直接聯(lián)系

北京世紀(jì)朝陽科技發(fā)展有限公司

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
參考報(bào)價(jià):

面議

型號(hào):

Omni

關(guān)注度:

5673

范圍(量程或細(xì)度):

1nm~100μm

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品名稱:Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品描述:Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀**結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

    Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀**結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,硬件PALS技術(shù)徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量,是目前市場(chǎng)上功能*強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。

詳細(xì)說明:

    作為*先將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了**結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào),又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限,**可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,徹底解決了長(zhǎng)期以來無法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量)的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場(chǎng)上功能*強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。

NanoBrook產(chǎn)品系列

 

 

項(xiàng)目173173PlusOmniZetaPALS功 能粒度測(cè)量功能●●●○分子量測(cè)量功能●●●○Zeta電位測(cè)量功能○○●● 技 術(shù) 參 數(shù)散射角15°與173°15°、90°與173°○粒度范圍0.3nm-10μm○分子量測(cè)定范圍342~2×107Dalton○相關(guān)器4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線性通道○Zeta電位適用粒度范圍○1nm~100μmZeta電位范圍○-500mV~500mV電導(dǎo)率范圍○0-30S/m電泳遷移率范圍○10-11~10-7m2/V.s電極○開放式**型電極系統(tǒng)參數(shù)溫控范圍與精度-5~110℃,±0.1℃激光源40mW光泵半導(dǎo)體激光器檢測(cè)器PMT或APD分析軟件Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件大小及重量233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg選 件BI-ZTU自動(dòng)滴定儀可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖BI-870介電常數(shù)儀直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值BI-SV10粘度計(jì)用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度

 

●代表“有”  ○代表“無”

 

典型應(yīng)用  

1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

3.多糖、藥物制備

4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

5.油包水、水包油體系

6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

7.食品、化妝品配方

8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑

 

應(yīng)用案例

    不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點(diǎn)的影響          不同官能團(tuán)配比對(duì)等電點(diǎn)的影響         Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

    通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對(duì)動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS)

 

技術(shù)參數(shù)

1.粒度測(cè)量范圍:0.3nm~10μm

2.Zeta電位測(cè)量適用粒度范圍:1nm~100μm

3.樣品濃度范圍:0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))

4.典型精度:1%

5.樣品類型:蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

6.樣品體積:1~3ml

7.分子量測(cè)定范圍:342~2×107Dalton

8.Zeta電位范圍:-500mV~500mV

9.電導(dǎo)率范圍:0~30S/m

10.電泳遷移率范圍:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s

11.電場(chǎng)強(qiáng)度:0 ~ 60 kV/m

12.電極:**性開放式電極,電極材料純鈀;耐腐蝕電極(選件);微量電極(選件)

13.溫控范圍與精度:-5℃~110℃,±0.1℃。

14.pH測(cè)量范圍:1-14

15.激光源:40mW光泵半導(dǎo)體激光器(可選5mW He-Ne激光器)

16.檢測(cè)器:高靈敏雪崩型二極管(APD)

17.相關(guān)器:4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線性通道,采用動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及動(dòng)態(tài)延遲時(shí)間分配

18.自動(dòng)趨勢(shì)分析:對(duì)時(shí)間、溫度及其他參數(shù)

19.散射角:15°、90°與173°

20.室溫操作情況:10°C ~ 75°C,濕度 0% ~95%, 無冷凝

21.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg

22.電源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

23.計(jì)算機(jī)(選件):商用計(jì)算機(jī),包括WindowTM軟件

24.自動(dòng)滴定儀(選件):獨(dú)立四泵驅(qū)動(dòng),可對(duì)pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖


產(chǎn)品咨詢

Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀

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Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 - 5673
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