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BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位儀

BeNano 180 Zeta Pro

直接聯(lián)系

丹東百特儀器有限公司

中國(guó)丹東

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)

參考報(bào)價(jià)：

面議

品牌：

丹東百特

型號(hào)：

BeNano 180 Zeta Pro

關(guān)注度：

19207

范圍（量程或細(xì)度）：

0.0003-15μm

創(chuàng)新點(diǎn)：

BeNano 180 Zeta Pro納米粒度儀及Zeta電位儀——背向+90°散射粒度+Zeta電位三合一型

產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向 +90°動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

基本性能指標(biāo)

粒徑檢測(cè)

原理	動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)
粒徑范圍	0.3 nm – 15 μm
樣品量	3 μL – 1 mL
檢測(cè)角度	173 °+90 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zate電位測(cè)試

原理	相位分析光散射技術(shù)
檢測(cè)角度	12°
Zeta范圍	無實(shí)際限制
電泳遷移率范圍	> ±20 μm.cm/V.s
電導(dǎo)率范圍	0 - 260 mS/cm
Zeta測(cè)試粒徑范圍	2 nm – 120 μm

分子量測(cè)試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測(cè)試

頻率范圍	0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s
測(cè)試能力	均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

粘度和折光率測(cè)試

粘度范圍	0.01 cp – 100 cp
折光率范圍	1.3-1.6

趨勢(shì)測(cè)試

時(shí)間與溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 110°C ，精度± 0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮?dú)?/span>
相關(guān)器	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
電泳遷移率范圍	≥25 ns采樣，≤ 4000通道，10¹¹動(dòng)態(tài)線性范圍
檢測(cè)器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強(qiáng)控制	0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng)