粉體行業(yè)在線展覽
Advance Riko AC
面議
Advance Riko AC
1990
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LaserPIT通過掃描激光加熱埃法測量薄板材料平面方向上的熱擴散系數(shù);
對于高導(dǎo)熱材料,還可測量亞微米的薄膜。
應(yīng)用:
1. 測量高導(dǎo)熱薄板的材料的熱擴散系數(shù);(厚度<500μm)CVD金剛石、氮化鋁等;
2. 測量金屬薄板的熱擴散系數(shù);(厚度<5μm)銅、鎳、不銹鋼等;
3. 測量低導(dǎo)熱系數(shù)材料的熱擴散率;(厚度<50μm)玻璃、樹脂材料等;
4. 測量各向異性的石墨片的熱擴散系數(shù);(厚度<100μm)
5. 聚酰亞胺及聚合物薄膜如PET;(厚度<5μm)
6. 測量沉積在基片上的氮化鋁及氧化鋁薄膜的熱擴散系數(shù);
7. 測量沉積在玻璃基板上的DLC薄膜的熱擴散系數(shù);
8. 測量沉積在PET基板上的有機顏料薄膜;
9. 評估各種濺射靶材料;
儀器特點:
l 精確測量從鉆石到聚合物片材的熱擴散系數(shù);
l 適用于各種材料3-500um厚度試樣;
l 通過微分方法可以測量沉積在測試板上100-1000nm的薄膜的導(dǎo)熱系數(shù);
儀器規(guī)格:
型號 | LaserPIT-R | LaserPIT-M2 |
測量內(nèi)容 | 熱擴散率 | |
溫度范圍 | 室溫 | 室溫~200℃ |
試樣尺寸 | 片狀材料: 2.5 mm to 5 mm width x 30 mm length x 3μm to 500 μm thickness 基片上的薄膜材料: 2.5 mm to 5 mm width x 30 mm length x 100 nm to 1000 nm thickness | |
測量氛圍 | 真空,<0.02Pa |
SPS-
SAL1000G
SERSTECH
SPS-
Nanonics MV2500
HFM-100
Nanonics
LHTG/LHTM/LHTW
Empyrean
V-Sorb4800-金埃譜
EMIA-820V
Hydrolink
Autoflex R837
3H-2000A
SQL810C/1010C
UNI800B
電磁波波譜濃度儀
BI-ZTU